[发明专利]一种非接触式高精度回转体零件直径自动测量仪

说明书

本发明公开了一种非接触式高精度回转体零件直径自动测量仪，机架上设置有升降机构及其驱动装置步进电机，所述升降机构下方同一水平面上固定设置有光电开关和激光扫描测径仪，所述机架上还设置有竖直放置待测零件的夹持装置，所述光电开关以及激光扫描测径仪在竖直方向上的移动范围大于零件的竖直放置的高度，所述步进电机通过驱动电路连接单片机，所述光电开关和激光扫描测径仪均连接单片机；该测量仪采用非接触式测量方法，不对零件表面产生任何损伤，通过控制步进电机，可控制仪器进行自动测量，测量精度高。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，具体涉及一种非接触式高精度回转体零件直径自动测量仪。

背景技术

目前，在机械加工的时候，会对一些不规则的回转体机械零件进行测量，目前采用的方法基本为接触式测量，大部分采用的还是传统的人工测量，接触式测量会容易破坏零件表面，形成刮痕，影响零件的质量；同时，采用人工进行测量，效率低，测量精度有限，由于零件的不规则性，测量难度大。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种非接触式高精度回转体零件直径自动测量仪，解决了采用非接触式测量方式测量不规则回转零件的直径时测量精度低的技术问题。

本发明采用的技术方案如下：

一种非接触式高精度回转体零件直径自动测量仪，包括机架，所述机架上设置有升降机构及其驱动装置步进电机，所述升降机构下方同一水平面上固定设置有光电开关和激光扫描测径仪，所述机架上还设置有竖直放置待测零件的夹持装置，所述光电开关以及激光扫描测径仪在竖直方向上的移动范围大于零件的竖直放置的高度，所述步进电机通过驱动电路连接单片机，所述光电开关和激光扫描测径仪均连接单片机。

进一步的，所述驱动电路的具体结构如下：

单片机的P0.0端通过反相器U3分别连接电阻R1的一端和三极管Q1的基极，所述电阻R1的另一端连接5V电源，所述三极管Q1的集电极通过电阻R2连接5V电源，所述三极管Q1的发射极连接光电隔离芯片U1A的1端，所述光电隔离芯片U1A的2端接地，所述光电隔离芯片U1A的3端通过电阻R3连接25V电源，所述光电隔离芯片U1A的4端连接三极管Q2的基极，所述三极管Q2的发射极接地，所述三极管Q2的集电极分别连接电阻R5的一端、电容C1的一端和电阻R7的一端，所述电阻R5的另一端连接分别连接电阻R6的一端和电容C1的另一端，所述电阻R6的另一端通过步进电机中的电感L1连接25V电源，所述R7的另一端连接二极管D1的阳极，所述二极管D2的阴极连接25V电源；

所述单片机的P2.1反相器U4分别连接电阻R8的一端和三极管Q3的基极，所述电阻R8的另一端连接5V电源，所述三极管Q3的集电极通过电阻R9连接5V电源，所述三极管Q3的发射极连接光电隔离芯片U2A的1端，所述光电隔离芯片U2A的2端接地，所述光电隔离芯片U2A的3端通过电阻R10连接25V电源，所述光电隔离芯片U2A的4端连接三极管Q2的基极，所述三极管Q2的发射极接地，所述三极管Q4的集电极分别连接电阻R12的一端、电容C2的一端和电阻R14的一端，所述电阻R12的另一端连接分别连接电阻R13的一端和电容C2的另一端，所述电阻R13的另一端通过步进电机中的电感L4连接25V电源，所述R14的另一端连接二极管D4的阳极，所述二极管D4的阴极连接25V电源。

进一步的，所述升降机构包括固定螺杆，所述固定螺杆上段配合设置有固定螺母，所述固定螺杆下段配合设置有活动螺母，所述活动螺母与滑块固定连接，所述机架上设置有导轨，所述滑块在所述导轨上滑动，所述滑块上固定连接光电开关和激光扫描测径仪。

进一步的，所述激光扫描测径仪包括激光发射端和激光接收端，所述激光发射端和激光接收端相对设置，所述待测零件设置在激光发射端和激光接收端之间。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：