[发明专利]一种高维持电压的低触发双向可控硅静电防护器件有效
申请号: | 201810249187.7 | 申请日: | 2018-03-21 |
公开(公告)号: | CN108461491B | 公开(公告)日: | 2023-09-29 |
发明(设计)人: | 汪洋;关健;骆生辉;董鹏;金湘亮 | 申请(专利权)人: | 湖南静芯微电子技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 湘潭市汇智专利事务所(普通合伙) 43108 | 代理人: | 颜昌伟 |
地址: | 410199 湖南省长沙市经济*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 维持 电压 触发 双向 可控硅 静电 防护 器件 | ||
1.一种高维持电压的低触发双向可控硅静电防护器件,其特征在于:包括P型衬底,所述P型衬底内设有N型深阱;所述N型深阱内从左到右依次设有第一P阱和第二P阱;第一P阱内从左到右依次设有第一P+注入区、第二P+注入区、第一N+注入区,其中第一P+注入区横跨第一P阱和N型深阱;第二P阱内从左到右依次设有第二N+注入区、第三P+注入区、第四P+注入区,其中第四P+注入区横跨第二P阱和N型深阱;所述第二P+注入区、第一N+注入区连接在一起并作为器件的阳极;所述第二N+注入区、第三P+注入区连接在一起并作为器件的阴极。
2.根据权利要求1所述的高维持电压的低触发双向可控硅静电防护器件,其特征在于,所述静电防护器件的等效电路包括:由第一N+注入区、第一P阱、N型深阱构成的第一NPN型晶体管;由第一P阱、N型深阱、第二P阱构成的第一PNP型晶体管;由N型深阱、第二P阱、第二N+注入区构成的第二NPN型晶体管;由第一P+注入区与N型深阱构成的第一二极管;由第四P+注入区与N型深阱构成的第二二极管;在第一P阱中形成的第一寄生电阻;在第二P阱中形成的第二寄生电阻;在N型深阱中第一P阱与第二P阱之间的部分形成的第三寄生电阻;在N型深阱中位于第一P阱下方的部分形成的第四寄生电阻;在N型深阱中位于第二P阱下方的部分形成的第五寄生电阻。
3.根据权利要求2所述的高维持电压的低触发双向可控硅静电防护器件,其特征在于:静电防护器件的等效电路中,所述第一寄生电阻的一端、第一NPN型晶体管的发射极连接在一起并作为器件阳极,第一寄生电阻的另一端、第一PNP型晶体管的发射极、第一二极管的正极、第一NPN型晶体管的基极连接在一起,所述第四寄生电阻的一端与第一二极管的负极相连,第四寄生电阻的另一端、第一NPN型晶体管的集电极、第三寄生电阻的一端连接在一起,第一PNP型晶体管的基极连接在第三寄生电阻的中间,所述第二寄生电阻的一端、第二NPN型晶体管的发射极连接在一起并作为器件阴极,第二寄生电阻的另一端、第一PNP型晶体管的集电极、第二二极管的正极、第二NPN型晶体管的基极连接在一起,所述第五寄生电阻的一端与第二二极管的负极相连,第五寄生电阻的另一端、第三寄生电阻的另一端、第二NPN型晶体管的集电极连接在一起。
4.根据权利要求3所述的高维持电压的低触发双向可控硅静电防护器件,其特征在于:当ESD脉冲发生在阳极时,N型深阱与第四P+注入区、N型深阱与第二P阱均处于反偏状态,随着脉冲电压的升高,N型深阱与第四P+注入区被率先击穿,器件内产生雪崩电流,雪崩电流依次经过第三寄生电阻、第五寄生电阻和第二寄生电阻流向阴极,当第二寄生电阻两端的压降足够使得第二NPN型晶体管的be结导通时,第二NPN型晶体管与第一PNP型晶体管之间的正反馈机制使得器件进入闩锁状态,即形成从阳极的第一N+注入区到第一P阱到N型深阱再到第二P阱最后流入阴极的第二N+注入区的主静电泄放路径。
5.根据权利要求4所述的高维持电压的低触发双向可控硅静电防护器件,其特征在于:所述P型衬底上设有保护环,且保护环接地。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的