[发明专利]存储设备及其坏块指派方法

说明书

一种存储设备包括非易失性存储器设备，该非易失性存储器设备在选定的存储单元的编程操作期间检测多个目标状态中的至少一个目标状态的状态通过循环的循环计数，并且基于检测到的状态通过循环的循环计数来生成指示编程操作是否成功的状态循环计数信息(SLCI)；以及存储控制器，其响应于检测到操作条件或外部命令，向非易失性存储器设备请求状态循环计数信息，并且基于来自非易失性存储器设备的状态循环计数信息，将包括选定的存储单元的存储块指派为坏块。

相关申请的交叉引用

要求于2017年3月29日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2017-0040197的优先权，其公开通过引用完整地并入本文。

技术领域

本文描述的发明构思涉及半导体存储器设备，更具体地，涉及使用循环状态信息的存储设备及其坏块指派方法。

背景技术

半导体存储器设备可以被分类为易失性半导体存储器设备和非易失性半导体存储器设备。易失性半导体存储器设备具有快速的读取和写入速度，但是在断电的情况下会丢失存储在其中的数据。相反，非易失性半导体存储器设备在断电的情况下保留存储的数据。为此，非易失性半导体存储器设备通常用于存储无论是否供电都必须保留的信息。

非易失性半导体存储器设备通常包括闪存设备。闪存设备用作诸如计算机、蜂窝电话、智能电话、个人数字助理(PDA)、数码相机、录像机、录音机、MP3播放器、手持式PC、游戏机、传真机、扫描仪和打印机等信息设备的语音和图像数据存储介质。目前，大容量、高速度且低功率的非易失性存储器设备正在开发并且安装在诸如智能电话等的移动设备中。

在非易失性存储器设备中对数据进行编程的操作包括在选定的存储器区域中写入数据的操作以及确定是否已经正常执行了在选定的存储器区域中写入数据的状态检测操作。如果状态检测操作的结果指示异常地执行了在选定的存储区域中写入数据，则非易失性存储器设备将写入确定为具有编程失败状态。被确定为具有编程失败状态的存 储器区域(或块)作为缺陷块或坏块来处理。

状态检测操作包括确定是否在有限数目的编程循环内对数据进行编程。然而，状态检测操作是有限的，并且在存储单元被编程为多个目标状态的非易失性存储器设备中不能防止不可纠正的错误。通过预先检测难以成功状态检测操作进行检查的错误并将包括错误的块指派为运行时坏块，可以显著提高非易失性存储器设备的数据的完整性。

发明内容

本发明构思的实施例提供了一种存储设备及其坏块指派方法，存储设备能够通过检测每个目标状态的状态通过循环的数目并且在发生不可纠正的错误之前通过使用检测结果来指派坏块，来提高数据的完整性。

本发明构思的实施例提供了一种存储设备，包括非易失性存储器设备，该非易失性存储器设备被配置为：在选定的存储单元的编程操作期间，检测多个目标状态中的至少一个目标状态的状态通过循环的循环计数，并且基于检测到的状态通过循环的循环计数来生成指示编程操作是否成功的状态循环计数信息(SLCI)；以及存储控制器，被配置为：响应于检测到操作条件或外部命令，向所述非易失性存储器设备请求所述状态循环计数信息，并且基于来自所述非易失性存储器设备的状态循环计数信息，将包括所述选定的存储单元的存储块指派为坏块。

本发明构思的实施例提供了一种存储设备的坏块指派方法，所述存储设备包括非易失性存储器设备和存储控制器。所述方法包括：由存储控制器监测用于执行运行时坏块处理操作的操作条件；由所述存储控制器基于所述监测的结果向所述非易失性存储器设备请求所述非易失性存储器设备的选定的存储块的状态循环计数信息；以及由所述存储控制器参考来自所述非易失性存储器设备的所述状态循环计数信息，将所述选定的存储块指派为坏块。所述状态循环计数信息是指示编程操作的成功状态或失败状态的信息，并且在对所述选定的存储块进行编程时，所述非易失性存储器设备基于检测所述选定的存储块的所述存储单元的多个目标状态中的每一个的状态通过循环的循环计数的结果来确定所述状态循环计数信息。