[发明专利]基于SAGNAC干涉仪的光纤加速度计及振动检测装置有效

专利信息
申请号: 201810253714.1 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN108548939B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 刘正勇;谭旨敬;钟永康 申请(专利权)人: 刘正勇
主分类号: G01P15/03 分类号: G01P15/03;G01H9/00
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 基于 sagnac 干涉仪 光纤 加速度计 振动 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种基于SAGNAC干涉仪的光纤加速度计,其特征在于,所述光纤加速度计包括:

壳体,包括基座和密封盖合于所述基座的上表面的封盖;和

传感组件,固定设置在所述基座和所述封盖之间;

其中,所述传感组件包括由一高双折射微结构光纤在一个平面上由内向外逐层盘绕形成的光纤线圈、叠设在所述光纤线圈上方的质量块以及位于所述微结构光纤一侧的光纤耦合器,所述光纤线圈的盘绕主体受压于所述质量块,所述光纤耦合器包括用于与外部光纤耦接的第一输入端、与所述微结构光纤的第一端连接的第一输出端及与所述光纤的第二端连接的第二输出端。

2.如权利要求1所述的光纤加速度计,其特征在于,所述微结构光纤包层排布设置多个轴对称的空气孔,以使光纤基模的两个偏振态模式在光纤纤芯中的传播常数不同,进而具有高双折射。

3.如权利要求1所述的光纤加速度计,其特征在于,所述微结构光纤的第一端和第二端分别由所述光纤线圈外侧和中心引出,所述基座的上表面开设有一沟槽,所述微结构光纤的第二端的引出线收纳于所述沟槽内。

4.如权利要求3所述的光纤加速度计,其特征在于,所示沟槽至少开设于所述质量块在所述基座的上表面的投影区域内。

5.如权利要求4所述的光纤加速度计,其特征在于,所述质量块叠设并固定于所述光纤线圈的正上方。

6.如权利要求4所述的光纤加速度计,其特征在于,所述质量块、光纤线圈通过胶水与所述光纤线圈固定连接,所述光纤线圈通过胶水固定于所述基座的上表面。

7.如权利要求1或2所述的光纤加速度计,其特征在于,所述光纤耦合器的第一输出端、第二输出端分别与所述微结构光纤的第一端、第二端通过熔融的方式连接。

8.如权利要求1或3所述的光纤加速度计,其特征在于,所述基座的上表面于还开设有用于收容所述光纤耦合器的凹槽。

9.如权利要求1或2所述的光纤加速度计,其特征在于,所述光纤耦合器还包括第二输入端,所述第二输入端的端口作斜面切割处理并悬空,且收容固定在所述壳体内。

10.一种振动检测装置,其特征在于,包括权利要求1至9任一项所述的基于SAGNAC干涉仪的光纤加速度计、与所述光纤加速度计通过光纤连接的解调议和与所述解调议通讯连接的计算机终端。

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