[发明专利]一种基于复合结构的石墨烯-量子点双色光探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201810254366.X 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN108550593B 公开(公告)日: 2021-04-27
发明(设计)人: 王军;朱瑶瑶;潘锐;苟君;陈超 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 蒋秀清;李春芳
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 复合 结构 石墨 量子 色光 探测器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于复合结构的石墨烯-量子点双色光探测器,由下至上包括绝缘层Ⅰ(2)、石墨烯Ⅰ(3)和量子点Ⅰ(5),所述量子点Ⅰ(5)两侧分别设置有两个电极Ⅰ(4),其特征在于:所述量子点Ⅰ(5)上还依次设置有介质层(6)、石墨烯Ⅱ(7)、量子点Ⅱ(9)和绝缘层Ⅱ(10),所述量子点Ⅱ(9)两侧分别设置有两个电极Ⅱ(8),所述量子点Ⅰ(5)和量子点Ⅱ(9)分别采用两种量子点材料制作;所述量子点Ⅰ(5)和量子点Ⅱ(9)的制作材料分别为FAPbBr3、MAPbI3、CuInS2/ZnS、CsPbBr3、黑磷量子点、PbS量子点、GaP量子点和PbSe量子点中的一种。

2.按照权利要求1所述的一种基于复合结构的石墨烯-量子点双色光探测器,其特征在于:所述绝缘层绝缘层Ⅰ(2)下方还设置有用于施加栅极电压的金属衬底(1)。

3.按照权利要求1所述的一种基于复合结构的石墨烯-量子点双色光探测器,其特征在于:所述绝缘层Ⅰ(2)、绝缘层Ⅱ(10)和介质层(6)的制作材料为SiO2、Si3N4、MnO2、MgO或Al2O3中的一种。

4.按照权利要求1所述的一种基于复合结构的石墨烯-量子点双色光探测器,其特征在于:所述绝缘层Ⅰ(2)和绝缘层Ⅱ(10)的厚度为100-1000nm,所述介质层(6)的厚度为1-500nm。

5.一种按照权利要求1-4任一项所述的基于复合结构的石墨烯-量子点双色光探测器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

[a]以金属衬底为基底,生长一层绝缘层Ⅰ;

[b]在绝缘层Ⅰ表面转移一层石墨烯,得到石墨烯Ⅰ;

[c]在石墨烯Ⅰ表面沉积一层金属层,然后用光刻使石墨烯Ⅰ中部裸露,从而制作出两个电极Ⅰ;

[d]经过步骤[c]的处理后,用旋涂的方法在裸露的石墨烯Ⅰ表面旋涂一层用于制备量子点Ⅰ的材料的溶液,干燥后得到量子点Ⅰ;

[e]经过步骤[d]的处理后,在电极Ⅰ和量子点Ⅰ的表面上生长一层介质层;

[f]在介质层表面转移一层石墨烯,得到石墨烯Ⅱ;

[g]在石墨烯Ⅱ表面沉积一层金属层,然后用光刻使石墨烯Ⅱ中部裸露,从而制作出两个电极Ⅱ;

[h]经过步骤[g]的处理后,用旋涂的方法在裸露的石墨烯Ⅱ表面旋涂一层用于制备量子点Ⅱ的材料的溶液,干燥后得到量子点Ⅱ;

[i]经过步骤[h]的处理后,在电极Ⅱ和量子点Ⅱ的表面上生长一层绝缘层Ⅱ,完成器件的封装。

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