[发明专利]显示基板及其检测方法、显示装置

说明书

本发明提供一种显示基板及其检测方法、显示装置，属于显示技术领域。本发明的显示基板，包括从显示区延伸至非显示区的数据线，在非显示区设置有开关晶体管，开关晶体管的第一极与数据线连接；在非显示区还设置有裂纹检测导线；裂纹检测导线的一端与开关晶体管的控制极连接，另一端与开关电压供给模块连接；开关晶体管的第二极与数据电压供给模块连接；开关电压供给模块用于在显示不良检测阶段输出第一开关电压，数据电压供给模块用于在显示不良检测阶段输出第一数据电压，以使开关晶体管处于线性区；开关电压供给模块用于在裂纹检测阶段输出第二开关电压，数据电压供给模块用于在裂纹检测阶段输出第二数据电压，以使开关晶体管处于饱和区。

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种显示基板及其检测方法、显示装置。

背景技术

当前在OLED柔性产品中，大部分采用了一种裂纹检测导线(PCD；Panel CrackDetect)设计，通过金属走线围绕着显示面板四周走数圈不等，连接至显示区若干数据线线，当PCD出现断裂时，增加PCD电阻，使相连的数据线上的数据电压写入不足，例如经典7T1C电路，数据电压写入不足，呈现数条不等亮线，从而到达检测膜层断裂的目的。

但目前随着产品分辨率(PPI)不断增加，全面屏的全面普及，显示面板中检测开关位置越来越狭隘，多使用单边开关用于显示面板显示不良检测(Cell Test)区分RGB画面，对于PCD，已经无多余开关进行开关控制，导致显示产品在Cell Test中，由于PCD本身的电阻，导致连接PCD的数据电压信号存在明显压降，写入数据电压不足，在不同电路中呈现亮线或者暗线，导致Cell Test过程中受到竖条PCD-X-Line干扰，影响产品正常不良检测，容易出现过检和误判，影响产品品质和良率。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种能够精准检测显示面板裂纹和显示不良的显示基板及其检测方法、显示装置。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示基板，划分为显示区和环绕所述显示区的非显示区，所述显示基板包括从所述显示区延伸至所述非显示区的数据线，在所述非显示区设置有开关晶体管，所述开关晶体管的第一极与所述数据线连接；在所述非显示区还设置有裂纹检测导线；其中，

所述裂纹检测导线的一端与所述开关晶体管的控制极连接，另一端与开关电压供给模块连接；

所述开关晶体管的第二极与数据电压供给模块连接；

所述开关电压供给模块，用于在显示不良检测阶段输出第一开关电压，所述数据电压供给模块，用于在显示不良检测阶段输出第一数据电压，以使所述开关晶体管处于线性区；

所述开关电压供给模块，用于在裂纹检测阶段输出第二开关电压，所述数据电压供给模块，用于在裂纹检测阶段输出第二数据电压，以使所述开关晶体管处于饱和区。

优选的是，所述显示区中设置有像素驱动电路；所述像素驱动电路包括：驱动晶体管，所述驱动晶体管的第二极连接第一电源电压供给模块；其中，

所述第一电源电压供给模块，用于在裂纹检测阶段输出第一电源电压，以使所述驱动晶体管处于饱和区。

优选的是，所述裂纹检测导线环绕所述非显示区设置。

进一步优选的是，所述裂纹检测导线的数量为2-3圈。

优选的是，所述显示基板还包括栅线；所述裂纹检测导线与所述栅线同层设置，且材料相同。

优选的是，所述裂纹检测导线的材料包括钼。

优选的是，所述开关晶体管包括P型晶体管。

优选的是，所述显示基板包括阵列基板或者OLED基板。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种上述显示基板的检测方法，包括：