[发明专利]一种用于检测验钞图像传感器的方法及装置有效
申请号: | 201810258069.2 | 申请日: | 2018-03-27 |
公开(公告)号: | CN108668125B | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 张新宇 | 申请(专利权)人: | 深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 | 代理人: | 阎昱辰 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 图像传感器 方法 装置 | ||
1.一种用于检测验钞图像传感器的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
被测传感器和治具传感器均曝光,治具传感器采集反射校验纸张的第一面反射图像,被测传感器采集所述反射校验纸张的第二面反射图像;
处理所述第一面反射图像信息得到第一反射指标,处理所述第二面反射图像信息得到第二反射指标;
被测传感器曝光,治具传感器采集透射校验纸张的第一面透射图像,处理所述第一面透射图像得到第一透射发光指标;
治具传感器曝光,被测传感器采集所述透射校验纸张的第二面透射图像,处理所述第二面透射图像得到第二透射发光指标;
根据所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标以及预先设置的算法确定被测传感器的检测结果,所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标均为线性度,其中线性度的计算依据如下公式:
上式中,a、b、c和d表示4个任一的曝光时间百分比,VEp表示亮电压减去暗电压后的数值,VEpx表示曝光百分比为x时对应的VEp数值;
所述预先设置的算法为:对比第一反射指标和第二反射指标,以及对比第一透射指标和第二透射指标,根据线性度重合程度确定被测传感器的检测结果。
2.根据权利要求1所述的一种用于检测验钞图像传感器的方法,其特征在于,所述方法包括:所述反射校验纸张和透射校验纸张在介质更换组件控制下运动至测试位置。
3.根据权利要求1所述的一种用于检测验钞图像传感器的方法,其特征在于,所述被测传感器和治具传感器均为图像传感器,其分别布置于所述反射校验纸张或所述透射校验纸张的第一面一侧和第二面一侧。
4.根据权利要求1所述的一种用于检测验钞图像传感器的方法,其特征在于,所述被测传感器和治具传感器均上设置有LED灯,所述曝光为启动对应传感器上的LED灯进行亮灯发光。
5.一种用于检测验钞图像传感器的装置,其特征在于,所述装置包括治具传感器、被测传感器、反射校验纸张、透射校验纸张、图像处理单元和分析确定单元;
所述治具传感器用于采集所述反射校验纸张的第一面反射图像和所述透射校验纸张的第一面透射图像,所述被测传感器用于采集所述反射校验纸张的第二面反射图像和所述透射校验纸张的第二面透射图像;
所述被测传感器和治具传感器均曝光时,所述治具传感器采集所述反射校验纸张的第一面反射图像,所述被测传感器采集所述反射校验纸张的第二面反射图像;所述被测传感器曝光时,所述治具传感器采集所述透射校验纸张的第一面透射图像;所述治具传感器曝光时,所述被测传感器采集所述透射校验纸张的第二面透射图像;
所述图像处理单元用于处理所述第一面反射图像信息和第二面反射图像信息分别得到第一反射指标和第二反射指标,所述图像处理单元还用于处理所述第一面透射图像信息和第二面透射图像信息得到分别第一透射指标和第二透射指标;
所述分析确定单元用于根据所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标以及预先设置的算法确定被测传感器的检测结果,所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标均为线性度,其中线性度的计算依据如下公式:
上式中,a、b、c和d表示4个任一的曝光时间百分比,VEp表示亮电压减去暗电压后的数值,VEpx表示曝光百分比为x时对应的VEp数值;
所述预先设置的算法为:所述分析确定单元对比第一反射指标和第二反射指标,以及对比第一透射指标和第二透射指标,根据线性度重合程度确定被测传感器的检测结果。
6.如权利要求5所述的用于检测验钞图像传感器的装置,其特征在于,所述装置包括设置有传动组件的介质更换组件,所述反射校验纸张和透射校验纸张设置于所述介质更换组件上的传动组件上,所述介质更换组件用于控制所述传动组件以将反射校验纸张和透射校验纸张运动至测试位置。
7.根据权利要求6所述的一种用于检测验钞图像传感器的装置,其特征在于,所述传动组件包括气缸、滑轨和滑块,所述滑块设置于所述滑轨上,所述气缸用于驱动所述滑块运动以将反射校验纸张和透射校验纸张运动至测试位置。
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