[发明专利]核磁共振T2有效

专利信息
申请号: 201810260213.6 申请日: 2018-03-27
公开(公告)号: CN110306977B 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 苏俊磊;邹友龙;李军;张爱芹;胡瑶;张军;刘志远;南泽宇 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;G01R33/46;G01V3/14;G06Q50/02
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 孙向民;廉莉莉
地址: 100027 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 核磁共振 base sub
【说明书】:

公开了一种核磁共振T2谱含烃校正方法及系统。该方法可以包括:采集目标储层的岩心样品进行核磁共振实验,获取核磁共振T2谱以及相应深度的孔隙度φ、渗透率K、几何平均值T2g;根据孔隙度φ、渗透率K、几何平均值T2g计算特征参数;将核磁共振T2谱划分为束缚水波谱和可动水波谱,通过特征参数重构可动水波谱,获得优化可动水波谱;将优化可动水波谱与束缚水波谱进行组合,即获得饱含水状态下的核磁共振T2谱。本发明将含烃的核磁共振T2谱校正到100%饱含水的核磁共振T2谱,以实现利用其连续定量评价储层孔隙结构的目的,流程简单,易于操作,实际应用效果好。

技术领域

本发明涉及石油地球物理勘探领域,更具体地,涉及一种核磁共振T2谱含烃校正方法及系统。

背景技术

核磁共振测井自从二十世纪九十年代被引入测井行业以来,由于其在获取储层束缚水饱和度、总孔隙度、有效孔隙度和渗透率等参数以及定量评价储集层孔隙结构方面的作用,受到岩石物理学家及测井分析家的普遍重视。尤其是在储集层孔隙结构定量评价方面,具有其他测井方法所无法比拟的独特优势。

据核磁共振的基本原理,核磁共振T2弛豫时间主要由三部分来组成,包括体积弛豫,表面弛豫和扩散弛豫,即:

式中,T2是孔隙流体横向弛豫时间,T2B是流体体弛豫,T2S是流体表明弛豫,T2D是流体扩散弛豫。

利用核磁共振测井评价孔隙结构的理论基础认为,对于水润湿和岩石而言,对于100%饱含水的岩石,在磁场均匀,扩散系数不大且岩石孔隙具有规则几何形状的情况下,其体积弛豫和扩散弛豫均可以忽略。此时,T2弛豫时间主要是表面弛豫,此种情况下,T2弛豫时间表示为:

式中,ρ2为岩石的表面弛豫率,S为岩石孔隙表面积,V为岩石孔隙体积,rC为岩石孔喉半径。由此可以看出,对于100%饱含水的水润湿相岩石而言,核磁共振T2弛豫时间与岩石的孔隙半径成正比,即孔隙结构较小的岩石,对应的T2弛豫时间也很短,在核磁共振T2谱上谱峰的位置相对较左。反之,孔隙半径较大的岩石,对应的T2弛豫时间较长,在核磁共振T2谱上谱峰的位置相对较右。因此,根据核磁共振T2谱的形态和相对位置来评价储集层的孔隙半径大小及分布。

然而,当储层岩石的孔隙空间含有非润湿相的烃之后,由于烃的体积弛豫不可忽略,导致核磁共振T2谱的形态和位置会发生变化。此时,核磁共振T2谱不能很好地反映岩石的孔隙分布。前人的研究成果主要集中在基于100%含水的核磁共振T2谱表征孔隙结构上(刘堂宴,马在田,付容珊. 核磁共振谱的岩石孔喉结构分析[J].石油地球物理勘探,2003,38(3): 328-333。邵维志,丁娱娇,刘亚。核磁共振测井在储层孔隙结构评价中的应用[J].测井技术,2009,33(1):52-56。),而对于非润湿相烃对核磁共振 T2谱的影响,鲜有人提出。肖亮(肖亮.利用核磁共振测井资料评价储集层孔隙结构的讨论.新疆石油地质,2008,29(2):260-263)分析了孔隙含烃对核磁共振T2谱的影响,利用“三孔隙组分百分比法”来评价孔隙结构,但是并未提供具体的含烃校正方法。因此,有必要开发一种核磁共振T2谱含烃校正方法及系统。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院,未经中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810260213.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top