[发明专利]一种多辐射单元天线测试箱及测试方法

权利要求书

1.一种利用多辐射单元天线测试箱进行测试的方法，其特征在于，所述多辐射单元天线测试箱包括测试箱主体和多个天线放置架，所述天线放置架个数与天线的辐射单元数量相同，所述测试箱主体包括箱体(1)和箱盖(2)，所述箱盖(2)用于打开或关闭测试箱主体，箱盖(2)关闭后所述测试箱主体形成密封结构，所述天线放置架用于放置多辐射单元天线，且所述天线放置架的高度可调节，所述测试箱主体上还设置有高度对比装置，所述高度对比装置用于显示天线放置架的相对高度的变化；所述天线放置架包括放置板(3)和调节杆(4)，所述调节杆(4)与放置板(3)垂直且下端固定在放置板(3)上，所述调节杆(4)与箱体(1)顶板活动连接，所述调节杆(4)用于调节放置板(3)距离箱体(1)顶板的距离，所述调节杆(4)下半部分与箱体(1)顶板螺纹连接，所述调节杆(4)上半部分伸出箱体外且外表面竖直方向标有刻度线，所述刻度线用于显示放置板(3)距离箱体(1)的距离；

测试方法包括以下步骤：

步骤S1、将多个RFID标签放入测试箱主体底部，并将多辐射单元天线的多个辐射单元分别放在多个天线放置架上，将RFID阅读器放置在测试箱主体外部；

步骤S2、调节天线放置架的高度为第一高度并记录第一高度的数值，利用RFID阅读器进行RFID标签读取，并记下读取到的标签数量为第一数量；

步骤S3、调节天线放置架的高度为第二高度并记录第二高度的数值，利用RFID阅读器进行RFID标签读取，并记下读取到的标签数量为第二数量；

步骤S4、重复进行步骤S2和S3，得到多个天线放置架高度值和对应的RFID标签的读取数量，计算天线放置架的高度值和RFID标签的读取数量对应关系。