[发明专利]测量梯度延时和一阶场不均匀度的装置、方法及存储介质有效
申请号: | 201810270790.3 | 申请日: | 2018-03-29 |
公开(公告)号: | CN110320485B | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 史中强 | 申请(专利权)人: | 西门子(深圳)磁共振有限公司 |
主分类号: | G01R33/54 | 分类号: | G01R33/54 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518057 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 梯度 延时 一阶 不均匀 装置 方法 存储 介质 | ||
1.测量梯度延时和一阶场不均匀度的装置,其特征在于,该装置包括:
脉冲设置模块,用于设置第一梯度脉冲和第一射频脉冲为:所述第一梯度脉冲为正负脉冲,所述第一射频脉冲的持续输出时间为:所述第一梯度脉冲的第一平台持续时间内;且设置第二梯度脉冲和第二射频脉冲为:所述第二梯度脉冲为与所述第一梯度脉冲极性相反的脉冲即负正脉冲,所述第二射频脉冲的持续输出时间为:所述第二梯度脉冲的第一平台持续时间内;将设置的第一梯度脉冲和第一射频脉冲信息,以及第二梯度脉冲和第二射频脉冲信息发送给MRI系统的脉冲序列发生器;其中,所述第一梯度脉冲和所述第二梯度脉冲的包络和输出持续时间相同,所述第一射频脉冲和所述第二射频脉冲的包络和输出持续时间相同;
测量控制模块,用于向所述脉冲序列发生器发送第一梯度模式触发指令,以使得:所述脉冲序列发生器接收到所述第一梯度模式触发指令后,根据所述第一梯度脉冲和第一射频脉冲信息,控制所述MRI系统的梯度波形发生器输出所述第一梯度脉冲,并控制所述MRI系统的射频发射机在第一时间间隔后输出所述第一射频脉冲,控制所述MRI系统的接收机在接收时间窗内接收第一回波;向所述脉冲序列发生器发送第二梯度模式触发指令,以使得:所述脉冲序列发生器接收到所述第二梯度模式触发指令后,根据所述第二梯度脉冲和第二射频脉冲信息,控制所述MRI系统的梯度波形发生器输出所述第二梯度脉冲,并控制所述MRI系统的射频发射机在第二时间间隔后输出所述第二射频脉冲,控制所述MRI系统的接收机在接收时间窗内接收第二回波,其中,所述第一时间间隔等于所述第二时间间隔;
计算模块,用于根据所述MRI系统的接收机接收到的第一回波,计算所述第一回波的产生时刻;根据所述接收机接收到的第二回波,计算所述第二回波的产生时刻;根据所述第一回波的产生时刻、所述第二回波的产生时刻,计算所述MRI系统的梯度延时和一阶场不均匀度。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述计算模块计算所述MRI系统的梯度延时和一阶场不均匀度包括:
根据如下两等式:
G×(t1―t0_1―g_delay)=ΔG×(t1+g_delay+t_pre)
G×(t0_2―t2+g_delay)=ΔG×(t2+g_delay+t_pre)
计算MRI系统的梯度延时g_delay和一阶场不均匀振幅ΔG;
其中,t1为第一回波的产生时刻,t2为第二回波的产生时刻,G为预先设定的梯度强度,t0_1为估计出的没有梯度延时和场不均匀性情况下的第一回波的理想产生时刻,t0_2为估计出的没有梯度延时和场不均匀性情况下的第二回波的理想产生时刻,t_pre为第一射频脉冲的峰值点的产生时刻到第一梯度脉冲的第二个梯形波上升沿结束时刻之间的时长。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述计算模块计算所述第一回波的产生时刻包括:
将所述第一回波的峰值点的产生时刻作为所述第一回波的产生时刻,或者,将所述第一回波采用傅立叶变换转换为频域信号,并提取所述频域信号的线性相位,根据所述线性相位计算所述第一回波的产生时刻;
所述计算模块计算所述第二回波的产生时刻包括:
将所述第二回波的峰值点的产生时刻作为所述第二回波的产生时刻,或者,将所述第二回波采用傅立叶变换转换为频域信号,并提取所述频域信号的线性相位,根据所述线性相位计算所述第二回波的产生时刻。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子(深圳)磁共振有限公司,未经西门子(深圳)磁共振有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810270790.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。