[发明专利]基于霍尔阵列的全向磁感强度测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种基于霍尔阵列的全向磁感强度测量装置，其特征在于，包括：一霍尔阵列芯片通过一绝缘杆安装在一壳体上，所述壳体内安装有一单片机，所述壳体上还安装有一显示屏；所述单片机通过导线与所述霍尔阵列芯片、所述显示屏通信。

2.根据权利要求1所述的基于霍尔阵列的全向磁感强度测量装置，其特征在于，所述单片机为Makeblock单片机。

3.根据权利要求1所述的基于霍尔阵列的全向磁感强度测量装置，其特征在于，所述霍尔阵列芯片为：三轴低功耗磁力计。

4.根据权利要求1所述的基于霍尔阵列的全向磁感强度测量装置，其特征在于，所述霍尔阵列芯片通过尼龙扎带固定在所述绝缘杆的一端，所述绝缘杆的另一端安装在所述壳体上。

5.根据权利要求1所述的基于霍尔阵列的全向磁感强度测量装置，其特征在于，所述壳体内还安装有一电源。

6.根据权利要求1所述的基于霍尔阵列的全向磁感强度测量装置，其特征在于，所述单片机连接一通信模块。

7.根据权利要求6所述的基于霍尔阵列的全向磁感强度测量装置，其特征在于，所述通信模块为蓝牙模块。

8.根据权利要求3所述的基于霍尔阵列的全向磁感强度测量装置，其特征在于，所述三轴低功耗磁力计为MLX90393。

9.一种基于霍尔阵列的全向磁感强度测量方法，其特征在于，单片机通过三轴低功耗磁力计实时获取磁感强度，单片机控制显示器显示三个轴向的磁感强度。

10.根据权利要求9所述的基于霍尔阵列的全向磁感强度测量方法，其特征在于，单片机获取三轴低功耗磁力计的磁场强度，单片机获取调零指令后将此时的磁场强度存储为参考强度，单片机控制显示器显示数值归零，单片机实时获取三轴磁力计的磁场强度，单片机将磁场强度减去参考强度后通过显示器进行显示。