[发明专利]一种AMOLED显示屏点线团在线缺陷检测方法

说明书

一种AMOLED显示屏点线团在线缺陷检测方法，该检测方法通过构造一个相邻差分滤波函数，用于对AMOLED显示屏被相机拍摄到的所要检测的图像进行滤波处理；然后对经过相邻差分滤波处理后的图像，根据该图像的前景缺陷相对于背景的不同亮度进行选择性阈值处理，即可将该图像的亮暗缺陷全部检测出来。本发明可以在不同的纹理背景条件稳定地将点、线、团缺陷分离出来；而且能尽可能少的丢失边界、形状、强度等信息，有利于后续缺陷特征的有效提取和分类。

技术领域

本发明属于图像处理及显示屏检测算法领域，尤其涉及一种AMOLED显示屏点线团在线缺陷检测方法。

背景技术

随着平板显示和柔性显示的快速普及，AMOLED（Active Matrix Organic LightEmitting Diode，译作有源矩阵有机电致发光二极管）显示技术凭借其视角广、画质均匀、响应快、低能耗，可折叠并且能做成柔性显示屏等优点成为目前最受瞩目的下一代新型显示技术，尤其是苹果推出使用AMOLED显示面板的新一代iPhone X，将进一步催化AMOLED的加速渗透，引爆各品牌与面板厂竞逐投资AMOLED的热潮。

然而，AMOLED制备工艺复杂，所以在制造过程中会引入各种缺陷，尤其常见的是点缺陷、线缺陷、团缺陷等。这些缺陷出现频率高，对显示屏的质量影响较大，不仅会降低产品的合格率，而且若未经处理就被投入使用会损坏FPC电路，造成IC及其他材料资源的浪费。所以，需要对AMOLED显示屏进行缺陷检测。传统的人工检测效率较低，不能满足流水线生产的需求，而且还会受疲劳、主观意识等因素的影响，造成错捡、漏检等不足。

相比人工检测的方法，依托机器视觉的检测方法会解放劳动力，提高检测效率。目前，国外许多专家学者对此做了很多研究并取得了不错的成果，但是国内在AMOLED显示屏缺陷检测方面国外相比仍有一定的差距。所以研究依托机器视觉的AMOLED显示屏缺陷不仅具有一定的应用前景，还可以进一步推动AMOLED显示面板产业的发展。

发明内容

为了解决现有技术中存在的缺陷或不足，本发明提供了一种AMOLED显示屏点线团缺陷在线检测方法。

本发明采用的技术方案如下：

一种AMOLED显示屏点线团在线缺陷检测方法，该检测方法包括如下过程：

首先，构造一个相邻差分滤波函数，用于对AMOLED显示屏被相机拍摄到的所要检测的图像进行滤波处理；

然后，对经过相邻差分滤波处理后的图像，根据该图像的前景缺陷相对于背景的不同亮度利用公式进行选择性阈值处理，即可将该图像的亮暗缺陷全部检测出来。

所述相邻差分滤波函数为一个可以改变大小及尺寸的“回”字型的滤波矩阵，该滤波矩阵分为外层、中间层和内层，并可以根据具体的缺陷图像改变每层的行数、列数及具体数值，所述相邻差分滤波函数定义为：

（1）

其中，，感兴趣像素区周围的窗口大小为，m是间隙带的长度，n是外层相邻像素数的厚度。

所述相邻差分滤波函数在对所要检测的图形进行滤波处理时，所述滤波矩阵的中心遍历所要检测的图形的每一个像素点进行滤波。

所述相邻差分滤波函数在对所要检测的图形进行滤波处理时，当相邻差分滤波函数移动到所要检测图像的每个目标像素点处时，将该点处的强度与其相邻区域的强度进行比较，以强调不同之处，消除相似之处。

通过将所述相邻差分滤波函数归一化到灰度级范围，可得：

（2）

其中，；表示相邻差分滤波函数；表示像素点周围的一个窗口，且窗口的大小与的核的大小相同；是阈值，其大小要远大于0，用于滤波后灰度图像映射；是图像归一化常数，。