[发明专利]一种阈值电压值的检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种阈值电压值的检测方法及装置，由于同一像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值不同，且数据电压值与对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值相关，检测线在充电后的电压值与驱动晶体管的初始阈值电压值相关。在充电电压比值不满足预设阈值范围时，调整该像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，并通过循环检测的方式使充电电压比值满足预设阈值范围，以根据调整后的数据电压值得到驱动晶体管的当前阈值电压值。在充电电压比值满足预设阈值范围时，则直接根据对检测线进行充电时输入的数据电压值即可得到驱动晶体管的当前阈值电压值，以提高检测得到的当前阈值电压值的准确性。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种阈值电压值的检测方法及装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)、量子点发光二极管(Quantum Dot Light Emitting Diodes，QLED)等电致发光二极管具有自发光、低能耗等优点，是当今电致发光显示面板应用研究领域的热点之一。目前，电致发光二极管一般属于电流驱动型，需要稳定的电流来驱动其发光。并且电致发光显示面板中采用像素电路来驱动电致发光二极管发光。在工艺制备中，一般会将像素电路中的驱动晶体管的尺寸与产品规格相适应，从而使制备完成的驱动晶体管具有初始阈值电压值V_th-0。然而由于器件老化等原因，会使驱动晶体管的当前阈值电压值与初始阈值电压值V_th-0不同，从而造成显示亮度差异。为了保证显示质量，可以通过外部补偿的方式，先检测得到驱动晶体管的当前阈值电压，再根据检测得到的当前阈值电压值对显示亮度进行补偿。然而，目前用于检测驱动晶体管的当前阈值电压值的方法无法避开驱动晶体管的迁移率的影响，使得检测得到的当前阈值电压值的准确性较低。

有鉴于此，如何比较准确的检测得到驱动晶体管的当前阈值电压值，是本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种阈值电压值的检测方法及装置，用以提高检测得到的驱动晶体管的当前阈值电压值的准确性。

因此，本发明实施例提供一种阈值电压值的检测方法，应用于对电致发光显示面板的像素电路中的驱动晶体管的阈值电压值进行检测，所述检测方法包括：

在预设检测周期中，控制每一像素电路向连接的检测线进行两次充电，并在每次充电后获取所述检测线上的电压值；其中，同一所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值不同，并且所述数据电压值与对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值相关；

根据获取的每一所述像素电路连接的检测线在两次充电后的电压值，确定每一所述像素电路对应的充电电压比值；

针对每一所述像素电路，在所述像素电路对应的充电电压比值不满足对应的预设阈值范围时，调整所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，并进行下一个预设检测周期的循环，直至所述像素电路对应的充电电压比值满足预先设定的阈值范围时，根据所述像素电路对应的调整后的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值；

针对每一所述像素电路，在所述像素电路对应的充电电压比值满足对应的预先设定的阈值范围时，根据所述像素电路对应的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值。

可选地，在本发明实施例提供的上述检测方法中，在第一次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第一数据电压值；在第二次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第二数据电压值；其中，所述第一数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第一检测电压值之和；所述第二数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第二检测电压值之和；

所述调整所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，具体包括：