[发明专利]电容调整方法及电容调整装置有效
申请号: | 201810281148.5 | 申请日: | 2018-04-02 |
公开(公告)号: | CN110190863B | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 严仁宏 | 申请(专利权)人: | 立积电子股份有限公司 |
主分类号: | H04B1/16 | 分类号: | H04B1/16 |
代理公司: | 上海市锦天城律师事务所 31273 | 代理人: | 刘民选 |
地址: | 中国台湾台北市内湖区*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 调整 方法 装置 | ||
1.一种电容调整方法,其特征在于,用来控制n组电容的一第1组电容至一第n组电容启用或禁用,该方法包含:
根据一基底电容值产生一基底计数值;
分别根据该第1组电容至该第n组电容产生一第1计数值至一第n计数值;
根据该基底计数值及该第1计数值至该第n计数值,求得一第1比例值至一第n比例值;
指定一目标计数值;
根据该基底计数值及该目标计数值求得一目标比例值;
根据该目标比例值及该第1比例值至该第n比例值,求得一第1控制信号至一第n控制信号,从而据以控制该第1组电容至该第n组电容启用或禁用;
其中n是正整数。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中:
根据该基底电容值产生该基底计数值包含:
根据该基底电容值产生一基底计数信号,及
根据该基底计数信号产生该基底计数值;及
分别根据该第1组电容至该第n组电容产生该第1计数值至该第n计数值包含:
分别启用该第1组电容至该第n组电容并产生一第1计数信号至一第n计数信号,及
分别根据该第1计数信号至该第n计数信号产生该第1计数值至该第n计数值。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包含:
根据该n组电容的电容值产生n个计数信号,以求得n个计数值;
将该n个计数值排序为该第1计数值至该第n计数值;及
根据该第1计数值至该第n计数值的排序,对应地将该n组电容排定为该第1组电容至该第n组电容;
其中该第1组电容的电容值至该第n组电容的电容值是依序增加。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中该基底电容值是该n组电容都禁用时的一寄生电容值。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中根据该目标比例值及该第1比例值至该第n比例值,求得该第1控制信号至该第n控制信号,包含:
设定一剩余参数;
若该剩余参数大于等于该第1比例值至该第n比例值的一第x比例值的倒数,以该剩余参数减去该第x比例值的倒数的差值更新该剩余参数,及将该第1控制信号至该第n控制信号的一第x控制信号设定为一启用位准;及
若该剩余参数大于等于该第1比例值至该第n比例值的一第(x-1)比例值的倒数,以该剩余参数减去该第(x-1)比例值的倒数的差值更新该剩余参数,及将该第1控制信号至该第n控制信号的一第(x-1)控制信号设定为一启用位准;
其中该剩余参数的初始值是该目标比例值的倒数,x是正整数,且n≧x≧2。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中根据该目标比例值及该第1比例值至该第n比例值,求得该第1控制信号至该第n控制信号,包含:
设定一剩余参数;
若该剩余参数小于该第1比例值至该第n比例值的一第x比例值的倒数,将该第1控制信号至该第n控制信号的一第x控制信号设定为一禁用位准;及
若该剩余参数大于等于该第1比例值至该第n比例值的一第(x-1)比例值的倒数,以该剩余参数减去该第(x-1)比例值的倒数的差值更新该剩余参数,及将该第1控制信号至该第n控制信号的一第(x-1)控制信号设定为该启用位准;
其中该剩余参数的初始值是该目标比例值的倒数,x是正整数,且n≧x≧2。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其中根据该目标比例值及该第1比例值至该第n比例值,求得该第1控制信号至该第n控制信号,包含:
设定一剩余参数;
若该剩余参数小于该第1比例值至该第n比例值的一第x比例值的倒数,将该第1控制信号至该第n控制信号的一第x控制信号设定为一禁用位准;及
若该剩余参数小于该第1比例值至该第n比例值的一第(x-1)比例值的倒数,将该第1控制信号至该第n控制信号的一第(x-1)控制信号设定为该禁用位准;
其中该剩余参数的初始值是该目标比例值的倒数,x是正整数,且n≧x≧2。
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