[发明专利]一种电子元器件的局部的特征识别方法、装置及设备

权利要求书

1.一种电子元器件的局部的特征识别方法，其特征在于，所述电子元器件的局部的特征识别方法包括

获取包括电子元器件的局部的图像；

基于预先经过训练的模型，检测所述图像，识别出所述图像中的所述电子元器件的局部的特征。

2.根据权利要求1所述的电子元器件的局部的特征识别方法，其特征在于，所述特征包括：坐标、位姿、感兴趣区域和/或像素分类。

3.根据权利要求1所述的电子元器件的局部的特征识别方法，其特征在于，所述电子元器件的局部为电子元器件的引脚、插脚、插孔或工位。

4.根据权利要求1所述的电子元器件的局部的特征识别方法，其特征在于，所述预先经过训练的模型包括至少一个NN和/或SVM。

5.根据权利要求1所述的电子元器件的局部的特征识别方法，其特征在于，所述NN包括CNN，所述CNN包括LeNet，AlexNet，ZFNet，VGG，GoogLeNet，Residual Net，DenseNet，R-CNN，SPP-NET，Fast-RCNN，Faster-RCNN，FCN，Mask-RCNN，YOLO，SSD,YOLO2。

6.根据权利要求3或4所述的电子元器件的局部的特征识别方法，其特征在于，当所述预先经过训练的模型包括多个模型，选择所述多个预先经过训练的模型中的最优模型作为所述预先经过训练的模型。

7.根据权利要求1所述的电子元器件的局部的特征识别方法，其特征在于，所述预先经过训练的模型通过如下方法获得；

获取初始化的所述模型，所述模型为针对输入的所述图像，输出所述电子元器件的局部的特征；

获取训练数据和标签数据；

基于所述训练数据和所述标签数据，对所述初始化的所述模型进行训练，以获取所述预先经过训练的所述模型。

8.一种电子元器件的局部的特征识别装置，其特征在于，所述电子元器件的局部的特征识别装置包括获取图像程序模块和识别特征程序模块；

获取图像程序模块，用于获取包括电子元器件的局部的图像；

识别特征程序模块，用于基于预先经过训练的模型，检测所述图像，识别出所述图像中的所述电子元器件的局部的特征。

9.根据权利要求8所述的电子元器件的局部的特征识别装置，其特征在于，所述电子元器件的局部的特征识别装置还包括模型获取模块，用于

获取初始化的所述模型，所述模型为针对输入的所述图像，输出所述电子元器件的局部的特征；

获取训练数据和标签数据；

基于所述训练数据和所述标签数据，对所述初始化的模型进行训练，以获取所述预先经过训练的模型。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现权利要求1-7任意一项所述的电子元器件的局部的特征识别方法。

11.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-7任意一项所述的电子元器件的局部的特征识别方法。

12.一种自动化设备，其特征在于，所述自动化设备包括至少一个权利要求11所述的电子设备。

13.一种权利要求1-5任意一项所述的电子元器件的局部的特征识别方法中所述的预先经过训练的模型的获取方法，其特征在于，所述预先经过训练的模型通过如下方法获得；

获取初始化的所述模型，所述模型为针对输入的所述图像，输出所述电子元器件的局部的特征；

获取训练数据和标签数据；

基于所述训练数据和所述标签数据，对所述初始化的所述模型进行训练，以获取所述预先经过训练的所述模型。