[发明专利]一种二维相交测线静校正处理方法、装置及系统

权利要求书

1.一种二维相交测线静校正处理方法，其特征在于，包括：

当完成一条二维测线的地震采集后，获取目标工区内二维相交测线的表层构造参数数据，所述表层构造参数包括：高速顶界面高程以及风化层速度；

计算所述相交测线的交点处两条测线的表层构造参数的差值；

判断所述相交测线中的测线的表层构造参数是否固定，如果是，则相应的测线不进行修正处理；如果否，则根据所述表层构造参数的差值对相应的测线的表层构造参数数据进行修正处理；

根据修正后的表层构造参数数据确定所述二维相交测线的基准面静校正量；

根据所述基准面静校正量进行折射波剩余静校正计算获得剩余静校正量；

根据所述基准面静校正量与剩余静校正量的和确定总静校正量；

将所述基准面静校正量的低频分量作为低频静校正量，将所述总静校正量的高频分量作为低频静校正量，利用所述低频静校正量以及高频静校正量对所述二维相交测线进行静校正处理。

2.根据权利要求1所述的二维相交测线静校正处理方法，其特征在于，对所述相交测线的表层构造参数数据进行修正处理，包括：

以所述相交测线的交点为中心，向相交测线的两端分别延伸预设距离确定预设修正范围；

对所述预设修正范围内的所述相交测线的表层构造参数数据进行修正处理。

3.一种二维相交测线静校正处理装置，其特征在于，包括：

参数获取模块，用于当完成一条二维测线的地震采集后，获取目标工区内二维相交测线的表层构造参数数据，所述表层构造参数包括：高速顶界面高程以及风化层速度；

数据修正模块，用于计算所述相交测线的交点处两条测线的表层构造参数的差值，判断所述相交测线中的测线的表层构造参数是否固定，如果是，则相应的测线不进行修正处理；如果否，则根据所述表层构造参数的差值对相应的测线的表层构造参数数据进行修正处理；

静校正量确定模块，用于根据修正后的表层构造参数数据确定所述二维相交测线的基准面静校正量；

剩余静校正量确定单元，用于根据所述基准面静校正量进行折射波剩余静校正计算获得剩余静校正量；

总静校正量确定单元，用于根据所述基准面静校正量与剩余静校正量的和确定总静校正量；

静校正处理单元，用于将所述基准面静校正量的低频分量作为低频静校正量，将所述总静校正量的高频分量作为低频静校正量，利用所述低频静校正量以及高频静校正量对所述二维相交测线进行静校正处理。

4.根据权利要求3所述的二维相交测线静校正处理装置，其特征在于，所述数据修正模块包括：

修正范围确定单元，用于以所述相交测线的交点为中心，向相交测线的两端分别延伸预设距离确定预设修正范围；

数据修正单元，用于对所述预设修正范围内的所述相交测线的表层构造参数数据进行修正处理。

5.一种二维相交测线静校正处理装置，其特征在于，包括处理器及用于存储处理器可执行指令的存储器，所述指令被所述处理器执行时实现包括以下步骤：

当完成一条二维测线的地震采集后，获取目标工区内二维相交测线的表层构造参数数据，所述表层构造参数包括：高速顶界面高程以及风化层速度；

计算所述相交测线的交点处两条测线的表层构造参数的差值；

判断所述相交测线中的测线的表层构造参数是否固定，如果是，则相应的测线不进行修正处理；如果否，则根据所述表层构造参数的差值对相应的测线的表层构造参数数据进行修正处理；

根据修正后的表层构造参数数据确定所述二维相交测线的基准面静校正量；

根据所述基准面静校正量进行折射波剩余静校正计算获得剩余静校正量；

根据所述基准面静校正量与剩余静校正量的和确定总静校正量；

将所述基准面静校正量的低频分量作为低频静校正量，将所述总静校正量的高频分量作为低频静校正量，利用所述低频静校正量以及高频静校正量对所述二维相交测线进行静校正处理。

6.一种二维相交测线静校正处理系统，其特征在于，包括至少一个处理器以及存储计算机可执行指令的存储器，所述处理器执行所述指令时实现权利要求2所述方法的步骤。