[发明专利]瓷层缺陷的检测方法、装置和检测平台在审
申请号: | 201810282815.1 | 申请日: | 2018-04-02 |
公开(公告)号: | CN108615232A | 公开(公告)日: | 2018-10-02 |
发明(设计)人: | 范召卿;张斌;谭德强;施景娥 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T3/40 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 赵囡囡;张立敏 |
地址: | 519070 *** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 瓷层 目标图片 人工检查 搪瓷产品 携带 | ||
本发明公开了一种瓷层缺陷的检测方法、装置和检测平台。其中,该方法包括:获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;根据所述待检测照片判断所述待检测瓷层是否存在缺陷,其中,在所述待检测瓷层存在缺陷时,所述待检测照片携带有与目标图片不同的信息,所述目标图片为不存在缺陷的瓷层的照片;在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。本发明解决了人工检查缺陷不可靠的技术问题。
技术领域
本发明涉及检测领域,具体而言,涉及一种瓷层缺陷的检测方法、装置和检测平台。
背景技术
在检测搪瓷内胆时,尤其是搪瓷内胆表面时,目前只能进行人工检验。通过经验判断搪瓷内胆的瓷层是否存在缺陷。但是,由于需要检测的范围比较大,且搪瓷内胆存在死角区域,人工无法准确的判断出是否存在缺陷,容易导致缺陷检测不可靠的技术问题。
针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种瓷层缺陷的检测方法、装置和检测平台,以至少解决人工检查缺陷不可靠的技术问题。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种瓷层缺陷的检测方法,包括:获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺;在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。
可选地,在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之后,所述方法还包括:扫描所述搪瓷产品的识别码,其中,所述识别码用于表示所述搪瓷产品的身份信息;将所述待检测照片和所述识别码关联存储。
可选地,所述方法还包括:在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之前,对所述搪瓷产品进行编码,得到产品序号编码;在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之后,将所述产品序号编码和所述待检测照片关联存储。
可选地,比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷包括:对所述待检测照片与所述目标图片进行比对,其中,所述目标图片包括第一图片和第二图片,所述第一图片为无缺陷产品的图片,所述第二图片为有缺陷产品的图片;在所述目标图片为第一图片的情况下,若所述待检测照片携带有与所述第一图片不同特征的情况下,确定所述待检测瓷层存在缺陷;在所述目标图片为第二图片的情况下,若所述待检测照片携带有与所述第二图片的缺陷信息相同特征的情况下,确定所述待检测瓷层存在缺陷。
可选地,所述搪瓷产品为搪瓷内胆,获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片包括:按照目标时间间隔或者目标步长旋转拍摄所述搪瓷内胆的侧壁,得到多个侧壁图片;在完成拍摄所述搪瓷内胆的侧壁之后,拍摄所述搪瓷内胆的底盖图像;将所述多个侧壁图片和所述底盖图像进行拼接,得到所述待检测照片。
可选地,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置之后,所述方法还包括:判断所述缺陷的类型是否为可修复类型;在所述缺陷的类型为可修复类型的情况下,对所述搪瓷产品进行修复处理;在所述缺陷的类型为不可修复类型的情况下,对所述搪瓷产品进行报废处理。
根据本发明实施例的一个方面,提供了一种瓷层缺陷的检测平台,包括:产品输送装置,用于输送搪瓷产品运动;检测工位,设置在所述产品输送装置的输送路径上,用于设置检测所述搪瓷产品的设备;摄像机,设置在所述检测工位上,用于在搪瓷产品运动到所述检测工位时,拍摄所述搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;处理器,与所述摄像机相连接,用于比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺,在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。
可选地,所述检测工位还设置有:伺服驱动导轨,与所述摄像机相连接,用于驱动所述摄像机运动到所述搪瓷产品的内部,并控制所述摄像机在所述搪瓷产品的内部上下移动,或者旋转。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于珠海格力电器股份有限公司,未经珠海格力电器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810282815.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。