[发明专利]一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板

说明书

本发明提供了一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板，包括：反射面板基底层、反射面板金属层、均匀介质层和多个无源单元结构；所述反射面板金属层铺覆在所述反射面板基底层的表面；所述均匀介质层铺覆在所述反射面板金属层的表面；所述多个无源单元结构铺覆在所述均匀介质层表面。本方案能够补偿到达测试区域的电磁波的相位。

技术领域

本发明涉及电磁测量技术领域，尤其涉及一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板。

背景技术

用于紧缩场暗室测试的反射面板是一种将馈源发射的电磁波在近距离转化为近似均匀平面波的装置。作为紧缩场的核心组成部分，反射面板在特定频段下的电磁性能直接决定了紧缩场测试结果的准确性。

目前，理想的测试状态是由位于焦点位置的馈源发射出的各向射线，经过传统的反射面板不同位置反射后，其到达测试区域电磁波的等相位面为平面。但是，上述等相位面为平面的结论是在“馈源各向射线到达反射面相位值满足平面波要求，且反射面板的形状为理想旋转抛物面”的前提下得到的。在实际应用中，由于馈源等相位面上各点并非严格满足所要求的平面波照射规律，且传统的反射面板在实际加工及安装调试中存在一定的误差，达不到严格理想旋转抛物面的要求，从而导致到达测试区域的电磁波相位与理想平面波相比存在较大偏差，严重影响最终测试结果的精度。

因此，针对以上不足，需要提供一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板，能够补偿到达测试区域的电磁波相位的偏差。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，馈源发射出的射线经过传统的反射面板反射后，到达测试区域的电磁波的相位与理想平面波相比存在较大偏差，针对现有技术中的缺陷，提供一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板。

第一方面，本发明实施例提供了一种用于紧缩场暗室测试的相位补偿反射面板，包括：反射面板基底层、反射面板金属层、均匀介质层和多个无源单元结构；

所述反射面板金属层铺覆在所述反射面板基底层的表面；

所述均匀介质层铺覆在所述反射面板金属层的表面；

所述多个无源单元结构铺覆在所述均匀介质层表面。

优选地，

设定在所述相位补偿反射面板中心位置的所述无源单元结构为参考单元，在预先确定的频率F下，所述相位补偿反射面板上的第n个所述无源单元结构的理论相位值与所述参考单元的实际反射相位值满足以下公式：

其中，表征在预先确定的频率F下第n个所述无源单元结构的理论相位值，F表征预先确定的频率，c表征预先确定的自由空间的波速，R_n表征馈源相位中心到第n个所述无源单元结构的射线距离，R₀表征馈源相位中心到所述参考单元的射线距离，x_n表征所述相位补偿反射面板上的第n个所述无源单元结构到所述参考单元的距离，θ_b表征反射波束的反射角度，表征在预先确定的频率F下参考单元的实际反射相位值。

优选地，所述无源单元结构的材质为金属材质。

优选地，所述均匀介质层的材质为聚四氟乙烯。

优选地，所述无源单元结构的厚度为[0.3mm，0.7mm]。

优选地，每一个所述无源单元结构，包括：第一部件和第二部件，其中，所述第一部件的形状为矩形，所述第二部件的形状为L型，第一部件与第二部件的一端平滑相连。

优选地，每一个所述无源单元结构，包括：第三部件和第四部件，其中，所述第三部件和所述第四部件的形状均为条形，所述第三部件和所述第四部件十字交叉平滑相连。