[发明专利]用于非接触线性位置检测的传感器装置有效

专利信息
申请号: 201810284982.X 申请日: 2018-04-02
公开(公告)号: CN108692648B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: T·布克;A·克劳泽;S·莱迪希 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02;G01R33/02
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 郑立柱;张鹏
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 接触 线性 位置 检测 传感器 装置
【权利要求书】:

1.一种用于非接触线性位置检测的传感器装置(1、1A、1B、1C、1D),具有:

标靶(3),所述标靶包括沿着测量路径(M)延伸的测量值发送器(4);以及

磁场传感器(10、10A、10B、10C、10D),所述磁场传感器与所述测量值发送器(4)间隔并且沿着所述测量路径(M)能够相对移动地布置并且至少部分地覆盖所述测量值发送器(4),

其特征在于,

所述测量值发送器(4)被构造成能够导磁,并且

所述磁场传感器(10、10A、10B、10C、10D)包括载体(14A、14B、14C、14D),所述载体具有至少一个测量值接收器(12)和至少一个永磁体(16A、16B、16C、16D),所述至少一个测量值接收器具有二维或三维的检测区域,所述至少一个永磁体产生局部磁场(7A、7B、7C、7D),所述局部磁场的磁通量被引入到所述测量值发送器(4)中,

其中所述测量值发送器(4)具有至少一个气隙(5A),所述至少一个气隙(5A)适合于根据所述磁场传感器(10、10A、10B、10C、10D)沿着所述测量路径(M)的当前位置(A、A'、A”)而影响所引入的磁通量,

其中所述至少一个测量值接收器(12)检测所述磁场(7A、7B、7C、7D)的当前方向(R),并且

其中评估和控制单元评估所述磁场(7A、7B、7C、7D)的当前方向(R),以用于确定所述磁场传感器(10、10A、10B、10C、10D)相对于所述测量路径(M)的当前位置(A、A'、A”),

其中所述至少一个气隙(5A)完全贯穿所述测量值发送器(4)。

2.根据权利要求1所述的传感器装置(1、1A、1B、1C、1D),其特征在于,所述至少一个气隙(5A)具有预设的宽度(B)和长度(L),所述气隙的纵向方向以预设的角度相对于所述测量路径(M)延伸。

3.根据权利要求2所述的传感器装置(1、1A、1B、1C、1D),其特征在于,所述至少一个测量值接收器(12)在所述气隙(5A)下方以在所述气隙的第一边缘(5.1)处的初始位置(A')和在所述气隙(5A)的第二边缘(5.2)处的终止位置(A”)来检测所述磁场(7A、7B、7C、7D)的方向(R),并且能够沿着所述测量路径(M)在所述气隙(5A)的宽度(B)上从所述初始位置(A')向所述终止位置(A”)移动,并且在所述气隙(5A)的宽度(B)上检测所述磁场(7A、7B、7C、7D)的方向(R)。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的传感器装置(1、1A、1B、1C、1D),其特征在于,所述测量值接收器(12)被构造为霍尔传感器元件或GMR传感器元件或AMR传感器元件。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的传感器装置(1、1A、1B、1C、1D),其特征在于,所述至少一个测量值接收器(12)布置在所述载体(14A、14B、14C、14D)的朝向所述测量值发送器(4)的表面上。

6.根据权利要求5所述的传感器装置(1、1A、1B、1C、1D),其特征在于,在所述至少一个测量值接收器(12)与所述测量值发送器(4)之间布置有间隔件(11)。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的传感器装置(1、1A),其特征在于,在所述至少一个测量值接收器(12)下方,在所述载体(14A)的背离于所述测量值发送器(4)的表面上,布置有永磁体(16A)。

8.根据权利要求2或3所述的传感器装置(1、1A),其特征在于,所述至少一个测量值接收器(12)布置在所述载体(14A、14B、14C、14D)的朝向所述测量值发送器(4)的表面上,所述永磁体(16A)覆盖所述至少一个测量值接收器(12)和所述气隙(5A),其中两个磁导体(18A)朝测量值发送器(4)的方向引导所述磁通量。

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