[发明专利]一种绝缘电阻测量装置在审
申请号: | 201810291200.5 | 申请日: | 2018-04-03 |
公开(公告)号: | CN108333489A | 公开(公告)日: | 2018-07-27 |
发明(设计)人: | 汪洋;吴新辉;邵璐;何续;韩磊;戢凯飞 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;武汉电力职业技术学院 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R27/08 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 崔友明;孙方旭 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 绝缘性能参数 测量电路 待测电阻 被试品 单片机 绝缘电阻测量装置 电压采样电阻 测试电阻 分压电阻 测量 电流采样电阻 动态变化曲线 无线传输模块 信号处理单元 测量精度高 测量电阻 电源接通 绝缘参数 绝缘状态 评估结果 支路并联 可显示 上位机 比对 预存 串联 电源 数据库 参考 | ||
本发明公开了一种绝缘电阻测量装置,包括测量电路、无线传输模块和上位机,测量电路中,分压电阻与电压采样电阻串联后与待测电阻所在支路并联,分压电阻R和电压采样电阻RV用于测量待测电阻的电压值,电流采样电阻用于测量待测电阻的电流值,信号处理单元用于处理所测得的电压值和电流值,并传送到单片机,得到被测试电阻的绝缘性能参数,单片机将电源接通,为测量电路提供电源参考值,单片机用于将被测试电阻的绝缘性能参数与预存绝缘参数数据库进行比对。本发明用于测量电阻的绝缘性能参数,测量精度高并且稳定性好,在此基础上可显示被试品的绝缘性能参数动态变化曲线,并显示被试品绝缘状态评估结果及被试品中可能存在的缺陷。
技术领域
本发明属于绝缘电阻测量应用研究领域,尤其涉及一种绝缘电阻测量装置。
背景技术
绝缘电阻表是用于测量电介质绝缘性能参数(绝缘性能参数包括:绝缘电阻、吸收比和极化指数)的专用仪表。目前,高压试验中大多采用数字式绝缘电阻表进行测量,试验人员将测量的结果与相关规程的参考值进行对比,其值不应低于规程规定的数值;也可与出厂试验、交接验收试验及以前的例行试验数值进行比较;还可以与同型被试品的试验数值进行比较。最终试验人员依据相关试验规程规定和个人经验,判断被试品绝缘情况是否良好。
这种传统的测量方法包含大量的人为分析过程,因此其有效性在很大程度上受到试验人员主观因素的影响。如试验人员经验不足、状态不佳,或试验人员掌握的数据量不充足,可能导致无法判断甚至误判的情况。同时,对试验结果的分析记录工作比较繁琐,降低了工作效率。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种绝缘电阻测量装置,用于测量电阻的绝缘性能参数,测量精度高并且稳定性好,在此基础上可显示被试品的绝缘性能参数动态变化曲线,并显示被试品绝缘状态评估结果及被试品中可能存在的缺陷。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种绝缘电阻测量装置,包括测量电路、无线传输模块和上位机,测量电路通过无线传输模块与上位机连接,测量电路主要包括单片机、电源、信号处理单元、分压电阻R、电压采样电阻RV、电流采样电阻Ri,电流采样电阻Ri与待测电阻Rx串联,分压电阻与电压采样电阻串联后与待测电阻所在支路并联,分压电阻R和电压采样电阻RV用于测量待测电阻的电压值,电流采样电阻用于测量待测电阻的电流值,两条支路所测的电流信号和电压信号同时经过信号处理单元;信号处理单元用于处理所测得的电压值和电流值,并传送到单片机,得到被测试电阻的绝缘性能参数,开关用于启动单片机,单片机将电源接通,为测量电路提供电源参考值,单片机用于将被测试电阻的绝缘性能参数与预存绝缘参数数据库进行比对。
按上述技术方案,所述电源为高压直流电源。
按上述技术方案,还包括显示单元,显示单元为电子触摸屏,与上位机相连,用于显示测量结果,同时显示测量时间。
本发明产生的有益效果是:本发明绝缘电阻测量装置,用于测量电阻的绝缘性能参数,测量精度高并且稳定性好,在此基础上可显示被试品的绝缘性能参数动态变化曲线,并显示被试品绝缘状态评估结果及被试品中可能存在的缺陷。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
图1是本发明实施例中绝缘电阻测量电路原理图;
图2是本发明实施例中绝缘电阻测量显示单元示意图;
图3是本发明实施例中测量装置的工作流程。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
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