[发明专利]辐射杂散测试方法、装置、存储介质及测试系统

说明书

本申请实施例提供一种辐射杂散测试方法、装置、存储介质及测试系统，所述辐射杂散测试方法包括：控制测试机以预设发射功率发射射频信号，并判断获取的第一接收信号的信号强度是否大于预设信号强度阈值；若所述第一接收信号的信号强度大于所述预设信号强度阈值，则断开所述测试机的射频信号源，并将所述测试机接通外接射频信号源；控制所述测试机以所述预设发射功率发射射频信号，并判断获取的第二接收信号的信号强度是否大于所述预设信号强度阈值；若所述第二接收信号的信号强度小于或等于所述预设信号强度阈值，则将所述测试机的射频信号源确定为辐射杂散的杂散源。所述辐射杂散测试方法可以快速确定测试机中辐射杂散的杂散源。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，特别涉及一种辐射杂散测试方法、装置、存储介质及测试系统。

背景技术

诸如智能手机等电子设备在出厂前都需要进行辐射杂散测试，以确定电子设备是否符合辐射杂散标准。当电子设备不符合辐射杂散标准时，需要对电子设备进行调试。

在辐射杂散测试过程中，电子设备的辐射杂散超标时，需要确定杂散源，以便对电子设备进行相应的调试。电子设备的杂散源包括射频信号源。而在辐射杂散测试的过程中，通常难以确定杂散源是否为射频信号源。

发明内容

本申请实施例提供一种辐射杂散测试方法、装置、存储介质及测试系统，可以快速确定测试机中辐射杂散的杂散源。

本申请实施例提供一种辐射杂散测试方法，包括：

控制测试机以预设发射功率发射射频信号，并判断获取的第一接收信号的信号强度是否大于预设信号强度阈值；

若所述第一接收信号的信号强度大于所述预设信号强度阈值，则断开所述测试机的射频信号源，并将所述测试机接通外接射频信号源；

控制所述测试机以所述预设发射功率发射射频信号，并判断获取的第二接收信号的信号强度是否大于所述预设信号强度阈值；

若所述第二接收信号的信号强度小于或等于所述预设信号强度阈值，则将所述测试机的射频信号源确定为辐射杂散的杂散源。

本申请实施例还提供一种辐射杂散测试装置，包括：

第一判断模块，用于控制测试机以预设发射功率发射射频信号，并判断获取的第一接收信号的信号强度是否大于预设信号强度阈值；

切换模块，用于若所述第一接收信号的信号强度大于所述预设信号强度阈值，则断开所述测试机的射频信号源，并将所述测试机接通外接射频信号源；

第二判断模块，用于控制所述测试机以所述预设发射功率发射射频信号，并判断获取的第二接收信号的信号强度是否大于所述预设信号强度阈值；

确定模块，用于若所述第二接收信号的信号强度小于或等于所述预设信号强度阈值，则将所述测试机的射频信号源确定为辐射杂散的杂散源。

本申请实施例还提供一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述辐射杂散测试方法。

本申请实施例还提供一种测试系统，包括测试设备和测试机，所述测试设备与所述测试机电性连接；

所述测试设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，用于执行上述辐射杂散测试方法。