[发明专利]用于样本表征的改进的光谱设备和方法

权利要求书

1.一种用于表征样本的表征设备(50)，所述设备包括：

-存储器，其存储穿过半透明材料执行的所述样本的测量的光谱和所述半透明材料的测量的光谱；

-处理单元，其被配置为：

*确定穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱的光谱能量，所述光谱能量与穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱的波长上的积分成正比；

*根据所述光谱能量来估计系数；以及

*根据穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱以及所述半透明材料的校正的光谱来确定所述样本的校正的光谱，

所述半透明材料的所述校正的光谱是根据所述半透明材料的所述测量的光谱以及估计的系数来确定的。

2.根据权利要求1所述的表征设备(50)，进一步包括建模单元，其被配置为实现根据参考样本的光谱的参考数据库开发的表征模型，所述表征模型使用所述样本的所述校正的光谱作为输入，并且递送所述样本的分类或者存在于所述样本中的化合物的分类或定量。

3.根据权利要求2所述的表征设备(50)，进一步包括数据构造模块，其被配置用于基于主成分分析来构造校正的样本光谱，所述数据构造模块生成构造的校正的样本光谱，由此将测量的波长的数量减少为较低数量的变量，所述构造的校正的样本光谱是根据所述参考数据库开发的改进的表征模型的输入，所述改进的表征模型递送所述样本的分类或者存在于所述样本中的化合物的分类或定量以代替分类模型。

4.一种分光光度计，其包括：

-测量设备，包括：

-光源，其被配置为照射样本，所述样本是被穿过半透明材料而照射的；

-检测器，其被配置为检测由所述样本反射或透射的光；

-计算模块(501)，其被配置为生成所述样本的测量的光谱；以及

-根据权利要求1至3中的任意一项所述的表征设备(50)。

5.一种用于确定样本的校正的光谱的方法(10)，包括以下步骤：

-加载(100)穿过半透明材料执行的所述样本的测量的光谱；

-加载(110)所述半透明材料的测量的光谱；

-确定(115)穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱的光谱能量，所述光谱能量与穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱的波长上的积分成正比；

-根据所述光谱能量来估计(120)系数；

-根据所述样本的所述测量的光谱以及所述半透明材料的校正的光谱来确定(130)所述样本的所述校正的光谱；

所述半透明材料的所述校正的光谱是根据所述半透明材料的所述测量的光谱以及估计的系数来确定的。

6.根据权利要求5所述的方法(10)，其中，所述测量的光谱被表达为吸光度。

7.根据权利要求5或6所述的方法(10)，其中，所述半透明材料的所述校正的光谱是根据所述估计的系数与所述半透明材料的所述测量的光谱的乘积来确定的。

8.根据权利要求5或6所述的方法(10)，其中，所述样本的所述校正的光谱是通过从穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱中减去所述半透明材料的所述校正的光谱来确定的。

9.根据权利要求5或6所述的方法，其中，所述估计的系数是由穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱的所述光谱能量与所述估计的系数之间的预定关系来确定的。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述预定关系是线性函数。

11.根据权利要求5或6所述的方法，包括先前步骤：测量穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱。

12.根据权利要求5或6所述的方法，包括步骤(250，350)：实现与分类模型或定量模型相对应的表征模型以及使用所述样本的所述校正的光谱作为输入。