[发明专利]点云修复方法、装置及终端有效
| 申请号： | 201810306574.X | 申请日： | 2018-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN110349091B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 胡玮;傅泽卿;郭宗明 | 申请（专利权）人： | 北京大学;北大方正集团有限公司;北京北大方正电子有限公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张子青;刘芳 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 修复 方法 装置 终端 | ||
1.一种点云修复方法，其特征在于，包括：
将预先获取的点云划分为互相有重叠部分的多个立方块；
确定所述多个立方块中的目标块和与所述目标块相对应的目标源块，所述目标块包含缺失数据；
根据所述目标源块中的信息对所述目标块中的缺失区域进行修复，获得修复结果块；
利用所述修复结果块替换所述点云中的目标块，获得修复后的点云；
确定所述多个立方块中的与所述目标块相对应的目标源块，包括：
将所述多个立方块中除去所述目标块的其他立方块确定为候选块；
获取所有候选块与所述目标块的直流分量差距和各向异性图全变分差距；
根据所述直流分量差距和各向异性图全变分差距确定所有候选块与目标块之间的相似度；
根据所述相似度确定与所述目标块相对应的源块；
根据所述目标块和源块确定所述目标源块。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所有候选块与所述目标块的直流分量差距，包括：
计算所述目标块的法向量的直流分量和所有候选块的法向量的直流分量；
根据所述目标块的法向量的直流分量和所有候选块的法向量的直流分量、并利用以下公式确定所述直流分量差距；
δD(ct,cc)＝|d(ct),d(cc)|；
其中，δD(ct,cc)为所有候选块与所述目标块的直流分量差距，d(ct)为目标块的法向量的直流分量，d(cc)为所有候选块的法向量的直流分量，ct为目标块，cc为所有候选块。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所有候选块与所述目标块的各向异性图全变分差距，包括：
在所述目标块和所有候选块上应用K-NN算法对块中的点建立K-NN图；
计算所述目标块的法向量的各向异性图全变分和所有候选块的法向量的各向异性图全变分；
根据所述目标块的法向量的各向异性图全变分和所有候选块的法向量的各向异性图全变分、并利用以下公式确定所述各向异性图全变分差距；
δV(ct,cc)＝|v(ct)-v(cc)|；
其中，δV(ct,cc)为所有候选块与所述目标块的各向异性图全变分差距，v(ct)为目标块的法向量的各向异性图全变分，v(cc)为所有候选块的法向量的各向异性图全变分，ct为目标块，cc为所有候选块。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述直流分量差距和各向异性图全变分差距确定所有候选块与目标块之间的相似度，包括：
根据所述直流分量差距和各向异性图全变分差距、并利用以下公式确定所有候选块与目标块之间的相似度：
δ(ct,cc)＝exp{-[δD(ct,cc)+δV(ct,cc)]}；
其中，δ(ct,cc)为所有候选块与目标块之间的相似度，δD(ct,cc)为所有候选块与所述目标块的直流分量差距，δV(ct,cc)为所有候选块与所述目标块的各向异性图全变分差距，ct为目标块，cc为所有候选块。
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