[发明专利]一种适于曲面的高精度测温结构在审
| 申请号： | 201810307451.8 | 申请日： | 2018-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN108458811A | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 高波;罗二仓;潘长钊;张海洋;陈燕燕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院理化技术研究所 |
| 主分类号： | G01K13/00 | 分类号： | G01K13/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测温块 被测物 测温 温度测量 热接触 安装方便 曲面表面 可拆卸 温度计 铟箔 配合 | ||
【权利要求书】：
1.一种适于曲面的高精度测温结构，其包括：至少一个测温块；一被测物；其特征在于：所述测温块与所述被测物相配合，在测温块和被测物之间垫有铟箔。
2.如权利要求1所述的高精度测温结构，其特征在于：所述铟箔的厚度需大于所述测温块和被测物之间的间隙。
3.如权利要求1所述的高精度测温结构，其特征在于：所述测温块为温度计提供安装位置。
4.如权利要求1所述的高精度测温结构，其特征在于：所述测温块的材料为高纯无氧铜。
5.如权利要求1所述的高精度测温结构，其特征在于：所述测温块的材料为高纯铝、蓝宝石、石墨烯等高导热材料。
6.如权利要求1所述的高精度测温结构，其特征在于：测温块位为方形、矩形、圆柱形或其他多面体结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院理化技术研究所，未经中国科学院理化技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810307451.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种电气设备温度在线监测系统
- 下一篇：电机绕组温度的获取方法和获取装置
