[发明专利]基于荧光材料的无损检测系统

说明书

本发明提供一种基于荧光材料的无损检测系统,所述系统包括:荧光激发装置，所述荧光激发装置用于发射激发荧光材料的激发光，其中所述激发光为非平行激发光；信号采集处理装置,所述信号采集处理装置用于获取荧光信号；数据处理装置,所述数据处理装置用于将待测产品表面的荧光信号转化为待测产品表面的位置信息；输出装置，所述输出装置可输出所述待测产品表面的位置信息。本发明的无损检测系统可通过荧光材料激发获得对应的荧光信号从而获得被测材料的表面损伤情况。

技术领域

本发明属于产品无损检测领域，具体涉及一种基于荧光材料的无损检测系统。

背景技术

无损探伤检测技术已广泛的应用在产品检测、后期维护等众多工业领域。传统的无损检测方法有超声波法、渗透法、磁粉检测法。目前现有的测试方法和装置均不能对表面进行定量的检测，只可以进行定性的检测。而且这些方法都有一定的局限性。比如磁粉检测法要求对待检测材料通电后有一定的磁性。超声波检测法和渗透法可广泛的检测固体材料，包括金属、非金属、无磁性以及铁磁性材料。但是使用这几种方法及其检测装置均不能对表面有效的三维定量测量。如果可以进行表面上定量检测，将有助于分析出表面具体损伤情况，譬如，分析处表面裂痕与表面划痕的区别。这将有助于提高产品检测的灵敏度，降低废品率。

发明内容

本发明提供一种新的无损检测系统，本发明的无损检测系统可通过荧光材料激发获得对应的荧光信号从而获得被测材料的表面损伤情况，具体的本发明提供一种如下的基于荧光材料的无损检测系统：

基于荧光材料的无损检测系统,所述系统包括:

荧光激发装置，所述荧光激发装置用于发射激发荧光材料的激发光，其中所述激发光为非平行激发光；

信号采集处理装置,所述信号采集处理装置用于获取荧光信号；

数据处理装置,所述数据处理装置用于将待测产品表面的荧光信号转化为待测产品表面的位置信息；

输出装置，所述输出装置可输出所述待测产品表面的位置信息。

进一步，所述激发光为激光。

进一步,所述荧光激发装置包括探头，所述非平行激发光通过所述探头对准测试点进行激发。

进一步，所述探头中设置有透镜,荧光激发装置的激发器发出光线通过所述透镜获得非平行激发光。

进一步，所述荧光信号为荧光寿命或不同波长的发光峰峰面积比。

进一步，所述数据处理装置包括数据拟合模块；所述数据拟合模块可通过已知距离位置测试点与非平行激发光不同相对距离下激发的荧光信号进行拟合处理，获得待测产品表面的荧光信号与待测产品表面位置信息之间的关联关系。

进一步，所述探头可来回移动。

进一步，所述数据拟合模块以以下函数的方式通过已知距离位置测试点与非平行激发光不同相对距离下激发的荧光信号进行拟合：y＝k₀+k₁x+k₂x²…+k_ixⁱ；其中y为相对距离，x为荧光信号。

进一步，所述无损检测系统包括样品放置平台，所述样品放置平台可在平台所在平面调节移动改变待测品的测试点。

进一步，所述无损检测系统包括X轴滑台、Y轴滑台、Z轴滑台和坐标处理模块，所述探头可通过Z轴滑台来回移动改变与待测点的相对距离，所述样品放置平台可通过X轴滑台和Y轴滑台在平台所在平面移动，通过所述坐标处理模块可控制探头和产品放置平台在X轴滑台、Y轴滑台和Z轴滑台的移动位置。