[发明专利]版图数据检查分配方法有效
申请号: | 201810319793.1 | 申请日: | 2018-04-11 |
公开(公告)号: | CN108595795B | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 张兴洲;张燕荣 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G06F30/398 | 分类号: | G06F30/398 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 版图 数据 检查 分配 方法 | ||
本发明公开了一种版图数据检查分配方法,包括如下步骤:步骤一,抽取版图中的各个层次的信息;步骤二,计算每个层次的多边形图形的数目;步骤三,计算设计规则检查演算式的层次的系数;步骤四,根据图形数目和系数,推算层次的加载系数;步骤五,根据加载系数,将层次分配到不同的分布式处理器做检查。本发明解决了现有技术中处理检查大规模的物理版图数据运算时间过长、速度较慢的问题。
技术领域
本发明涉及集成电路制造领域,具体涉及一种版图数据检查分配方法。
背景技术
在集成电路制造领域,针对每一种关键尺寸的集成电路制造工艺,制造商都制定有层次设计规则,包括层次编号、层次名称、层次的物理含义等。集成电路设计者在设计开发版图时,需要严格地遵守集成电路制造商的层次设计规则。集成电路设计者向集成电路制造商传递版图数据时,还需要附有层次信息表,其中包含该版图数据所使用到的层次编号、层次名称、层次的物理含义等。
随着设计规则越来越小,一些辅助技术也应运而生,目前0.18um工艺以下最重要的步骤之一就是DRC(Design Rule Check)设计规则检查。在0.18um以下工艺中,版图的图形如果不能够符合设计规则,在晶片上的图像将会歪曲变形,所以设计规则检查可以保证最后在晶片上刻蚀的图像更接近于版图的形状。
一般一个系统级芯片设计,物理版图数据的规模在几个GB到几十个GB量级,并有望发展到几百个GB到几个TB的量级,需要好几个小时的时间来完成所有层次的DRC,而内存使用也会达到几十个GB的量级。以往的技术主要是将产品数据的不同层次给计算机做单层顺序检查。但是现有技术处理检查大规模的物理版图数据运算时间过长、速度较慢。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种版图数据检查分配方法,解决现有技术中处理检查大规模的物理版图数据运算时间过长、速度较慢的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供了一种版图数据检查分配方法,包括如下步骤:步骤一,抽取版图中的各个层次的信息;步骤二,计算每个层次的多边形图形的数目;步骤三,计算设计规则检查演算式的层次的系数;步骤四,根据图形数目和系数,推算层次的加载系数;步骤五,根据加载系数,将层次分配到不同的分布式处理器做检查。
优选地,还包括:步骤六,若检查结果不符合设计规则要求,则回到步骤三。
优选地,步骤一中所述的信息包括所述层次的编号、名称、物理含义。
优选地,步骤三中,还包括如下工作流程:工作流程一,将版图数据检查分割为多个计算分支;工作流程二,根据版图参与运算的层次在各个分支中出现的频度作出统计,统计内容包括:层次编号,名称,设计规则检查系列号。
优选地,所述步骤四中,根据下式计算设计规则检查演算式的层次的系数:
λ=各层多边形图形的放目÷所有层次多边形图形数,其中为设计规则检查演算式的层次的系数。
优选地,步骤五中,分支中的各节点编号与其他分支的各节点编号没有重复。
优选地,步骤五中,有节点编号重复的分支,需要等前一分支结束后分配运算。
优选地,步骤五中,优先将CPU性能高的服务器分配给加载系数高的分支。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
图1为本发明的版图数据检查分配方法流程图。
图2为本发明的版图数据检查分配方法流程中将版图分割成多个分支的示意图。
图3为使用本发明的版图数据检查分配方法的DRC性能与内存对比示意图。
具体实施方式
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