[发明专利]城市地下空间勘探方法及系统

权利要求书

1.一种城市地下空间勘探系统，包括：

获取单元，用于获取关于城市地下空间的地质信息；

剖面确定单元，用于根据所述地质信息分别确定所述城市地下空间的地震反射剖面和表层折射层析剖面；

物探解释单元，用于根据所述地震反射剖面和所述表层折射层析剖面，生成针对所述城市地下空间的目标勘探解释结果。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述物探解释单元包括：

反射解释模块，用于确定对应于所述地震反射剖面的断层解释结果和地层解释结果；

折射解释模块，用于确定对应于所述表层折射层析剖面的基岩起伏面解释结果和第四系覆盖面解释结果；

物探解释模块，用于基于所述断层解释结果、地层解释结果、基岩起伏面解释结果和所述第四系覆盖面解释结果，生成针对所述城市地下空间的目标勘探解释结果。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述剖面确定单元用于基于第一地质信息生成关于所述城市地下空间的地震反射剖面，并基于第二地质信息生成关于所述城市地下空间的表层折射层析剖面，其中所述第一地质信息包括微测井资料、测录井资料和地质填图，以及所述第二地质信息包括地震折射波资料。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，该系统还包括：

辅助解释结果确定单元，用于基于辅助物探技术，确定针对所述城市地下空间的辅助物探解释结果；

解释结果校准单元，用于基于所述辅助物探解释结果校准所述目标勘探解释结果。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述辅助物探解释结果还包括反演物探解释结果，其中：

所述剖面确定单元用于根据所述地质信息，分别确定针对所述城市地下空间的面波速度剖面和高密度电阻率法剖面；

所述辅助解释结果确定单元用于根据所述面波速度剖面和所述高密度电阻率法剖面，生成针对所述城市地下空间的反演物探解释结果；以及

所述解释结果校准单元用于基于所述反演物探解释结果校准所述目标勘探解释结果。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述剖面确定单元包括：

面波速度剖面确定模块，用于基于地震面波资料确定关于所述城市地下空间的面波速度剖面；

高密度电阻率法剖面确定模块，用于通过高密度电阻率法确定关于所述城市地下空间的高密度电阻率法剖面。

7.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述解释结果校准单元包括：

匹配判断模块，用于判断所述辅助物探解释结果是否匹配于所述目标勘探解释结果；

置信度评价模块，用于若匹配，则为所述目标勘探解释结果赋予较高的置信度；以及若不匹配，则为所述目标勘探解释结果赋予较低的置信度。

8.一种城市地下空间勘探方法，包括：

获取关于城市地下空间的地质信息；

根据所述地质信息分别确定所述城市地下空间的地震反射剖面和表层折射层析剖面；

根据所述地震反射剖面和所述表层折射层析剖面，生成针对所述城市地下空间的目标勘探解释结果。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述地震反射剖面和所述表层折射层析剖面生成针对所述城市地下空间的目标勘探解释结果包括：

确定对应于所述地震反射剖面的断层解释结果和地层解释结果；

确定对应于所述表层折射层析剖面的基岩起伏面解释结果和第四系覆盖面解释结果；

基于所述断层解释结果、地层解释结果、基岩起伏面解释结果和所述第四系覆盖面解释结果，生成针对所述城市地下空间的目标勘探解释结果。