[发明专利]叠瓦电池粘接拉力测试样片及其制备方法和测试方法在审
申请号: | 201810323795.8 | 申请日: | 2018-04-11 |
公开(公告)号: | CN108335992A | 公开(公告)日: | 2018-07-27 |
发明(设计)人: | 孙俊;周福深;尹丙伟 | 申请(专利权)人: | 成都晔凡科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L31/05 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 刘迎春;王菲 |
地址: | 610041 四川省成都市高新区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电池 切割片 粘接 测试样片 测试 制备 导电胶粘剂 负极主栅线 正极主栅线 拉力测试 | ||
1.一种用于测试叠瓦电池粘接拉力的测试样片,所述测试样片由两小片电池切割片叠瓦重叠形成,其中,两小片电池切割片中的一小片电池切割片的正极主栅线与另一小片电池切割片的负极主栅线重叠并通过导电胶粘剂粘接。
2.根据权利要求1所述的测试样片,其特征在于,所述测试样片采用与实际量产相同的涂胶工艺。
3.根据权利要求2所述的测试样片,其特征在于,所述测试样片采用与实际量产相同的单片用胶耗量。
4.根据权利要求1所述的测试样片,其特征在于,所述正极主栅线或所述负极主栅线的宽度为0.1-2.0mm,所述两小片电池切割片的重叠区域的宽度为0.5-5.0mm。
5.根据权利要求1所述的测试样片,其特征在于,所述测试样片的沿着所述正极主栅线或所述负极主栅线的方向的宽度为1-50mm。
6.根据权利要求1所述的测试样片,其特征在于,在所述测试样片的两端处,在所述测试样片的前后表面上粘贴胶带。
7.根据权利要求6所述的测试样片,其特征在于,在所述测试样片的两端处被所述胶带粘贴覆盖的后续用于被夹具夹持的可夹持区域分别至少保留1mm,并且所述可夹持区域分别距离所述两小片电池切割片的重叠区域小于50mm。
8.根据权利要求7所述的测试样片,其特征在于,除所述两小片电池切割片的重叠区域之外,所述测试样片的前后表面完全被胶带粘贴覆盖。
9.一种用于制备如权利要求1至8中任一项所述的测试样片的制备方法,所述制备方法包括如下步骤:
沿电池片的正极主栅线或负极主栅线的方向将所述电池片切割为多个测试配片,所述多个测试配片中的每个测试配片的一侧为正极主栅线,另一侧为负极主栅线;
将所述多个测试配片中的两个测试配片叠瓦重叠,其中,所述两个测试配片中的一个测试配片的正极主栅线与另一个测试配片的负极主栅线重叠并通过导电胶粘剂粘接;
沿垂直于所述正极主栅线或所述负极主栅线的方向将粘接后的两个测试配片切割成多个测试样片。
10.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,采用与实际量产相同的涂胶工艺。
11.根据权利要求10所述的制备方法,其特征在于,采用与实际量产相同的单片用胶耗量。
12.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,所述正极主栅线或所述负极主栅线的宽度为0.1-2.0mm,所述两个测试配片的重叠区域的宽度为0.5-5.0mm。
13.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,所述电池片被切割为2-10个测试配片。
14.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,沿垂直于所述正极主栅线或所述负极主栅线的方向按照1-50mm的切割间距将所述粘接后的两个测试配片切割成多个测试样片。
15.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,在所述测试样片的两端处,在所述测试样片的前后表面上粘贴胶带。
16.根据权利要求15所述的制备方法,其特征在于,在所述测试样片的两端处被所述胶带粘贴覆盖的后续用于被夹具夹持的可夹持区域分别至少保留1mm,并且所述可夹持区域分别距离所述测试样片的叠瓦重叠区域小于50mm。
17.根据权利要求16所述的测试样片,其特征在于,除所述测试样片的叠瓦重叠区域之外,所述测试样片的前后表面完全被胶带粘贴覆盖。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造