[发明专利]SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板

权利要求书

1.一种SoC芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待测SoC芯片的芯片架构类型；所述芯片架构类型为X86架构、ARM架构、MIPS架构中的一种；

根据所述芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库生成芯片测试程序，其中，所述测试程序框架用于完成多种芯片架构类型的测试项，所述芯片接口驱动函数数据库包括各所述芯片架构类型下，完成各所述测试项的接口驱动函数；

根据所述测试程序对所述待测SoC芯片进行测试；

其中，在所述根据所述芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库生成芯片测试程序的步骤之前，还包括以下步骤：

获取满足多种芯片架构类型所需的各类型的测试项；

根据各所述测试项分别建立各个测试程序次框架；

根据各所述测试程序次框架建立所述测试程序框架；

其中，根据所述芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库生成芯片测试程序的步骤，包括以下步骤：

根据所述芯片架构类型，从所述芯片接口驱动函数数据库中选取接口驱动函数；

根据测试程序框架和所述接口驱动函数生成芯片测试程序。

2.根据权利要求1所述的SoC芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述芯片架构类型，从所述芯片接口驱动函数数据库中选取接口驱动函数的步骤，包括以下步骤：

根据所述芯片架构类型确定测试项；

根据所述测试项获取测试程序次框架，其中，所述测试程序框架包括多个所述测试程序次框架；

根据所述芯片架构类型和所述测试程序次框架，从所述芯片接口驱动函数数据库中选取对应的接口驱动函数。

3.根据权利要求1所述的SoC芯片测试方法，其特征在于，在所述根据所述芯片架构类型、测试程序框架和芯片接口驱动函数数据库生成芯片测试程序的步骤之前，还包括以下步骤：

确定各所述测试程序次框架在各所述芯片架构类型下所包括的接口驱动函数；

根据所述接口驱动函数建立所述芯片接口驱动函数数据库。

4.一种SoC芯片测试验证板，其特征在于，包括待测芯片测试插座和处理器，其中，所述处理器用于实施如权利要求1至3任意一项所述的SoC芯片测试方法；

所述处理器通过所述待测芯片测试插座与安装在所述待测芯片测试插座上的待测SoC芯片连接；

所述待测芯片测试插座设置有存储器接口和外设接口，其中，所述存储器接口用于将存储器与所述待测SoC芯片连接，所述外设接口用于将外部设备与所述待测SoC芯片连接。

5.一种SoC芯片测试装置，其特征在于，包括如权利要求4所述的SoC芯片测试验证板、开发板、上位机、信号发生器和示波器；

所述SoC芯片测试验证板分别与所述开发板和所述上位机通信，所述SoC芯片测试验证板分别与所述信号发生器和所述示波器连接；

所述开发板用于向所述SoC芯片测试验证板输入信号；

所述上位机用于通过串行接口和网络端口与所述SoC芯片测试验证板通信；

所述信号发生器用于向所述SoC芯片测试验证板输入信号；

所述示波器用于检测所述SoC芯片测试验证板的输出信号。