[发明专利]一种测试方法、发射设备和测试设备及测试系统

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，包括：

发射设备通过发射天线阵列发射N个信号序列，所述N个信号序列相互正交，所述N为大于1的正整数；

所述发射设备从测试设备获取所述N个信号序列中各信号序列经过各自信道的相位偏移；

所述发射设备根据所述各信号序列经过各自信道的相位偏移调整初始测试信号，得到能够在所述测试设备处同相叠加的目标测试信号；所述目标测试信号为根据所述各信号序列经过各自信道的相位偏移分别对所述初始测试信号进行相位调整所得的多个信号序列；

所述发射设备通过所述发射天线阵列发射所述目标测试信号，所述发射天线阵列的阵面口径D、所述发射天线阵列与接收天线之间的距离d和所述目标测试信号的波长λ满足以下公式：d＜2D²/λ。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述相位偏移、所述初始测试信号和所述目标测试信号的信号序列满足以下公式：

S_tk为所述目标测试信号中第k个信号序列，S_t为所述初始测试信号，为第k个信号序列经过信道的相位偏移，所述k不大于N。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述方法还包括：所述发射设备从所述测试设备获取各信号序列经过各自信道的衰减幅度；

则所述发射设备根据所述各信号序列经过各自信道的相位偏移调整初始测试信号，得到目标测试信号包括：所述发射设备根据所述各信号序列经过各自信道的相位偏移和衰减幅度，调整所述初始测试信号得到所述目标测试信号。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述相位偏移、所述衰减幅度、所述初始测试信号和所述目标测试信号的信号序列满足以下公式：

S_tk为所述目标测试信号中第k个信号序列，S_t为初始测试信号，α_k为第k个信号序列经过信道后的衰减幅度，为第k个信号序列经过信道后的相位偏移，所述k不大于N。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述N个信号序列为从正交序列中选取的N个信号序列，所述正交序列为m序列，Golden序列、Walsh序列、LAS序列、Golay序列或Kasami序列。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述发射设备通过发射天线阵列发射N个信号序列包括：

所述发射设备通过所述发射天线阵列同时发射N个信号序列。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述发射设备通过所述发射天线阵列发射所述目标测试信号包括：

所述发射设备通过所述发射天线阵列同时发射所述目标测试信号，所述目标测试信号包括N个信号序列。

8.一种测试方法，其特征在于，包括：

测试设备通过接收天线接收第一信号，所述第一信号为发射设备通过发射天线阵列发送的N个信号序列的信道响应，所述N个信号序列相互正交，所述N为大于1的整数，所述发射天线阵列的阵面口径D、所述发射天线阵列与所述接收天线之间的距离d和目标测试信号的波长λ满足以下公式：d＜2D²/λ；

所述测试设备根据所述第一信号，确定所述N个信号序列中各信号序列经过各自信道的相位偏移；

所述测试设备将所述各信号序列经过各自信道的相位偏移，发送给所述发射设备；

所述测试设备通过所述接收天线接收第二信号，所述第二信号为目标测试信号的信道响应，所述目标测试信号为所述发射设备根据所述各信号序列经过各自信道的相位偏移调整初始测试信号得到的多个信号序列，所述目标测试信号在所述测试设备处同相叠加；

所述测试设备根据所述第二信号，计算所述发射设备的信号指标。