[发明专利]一种电容式触控按键的检测方法和检测装置

权利要求书

1.一种电容式触控按键的检测方法，电容式触控按键包括具有n个电容触控按键，其中n为大于或等于1的正整数，其特征在于：所述检测方法包括以下步骤：

获取预设的第一电容矩阵和预设的第一电容均值矩阵，其中预设的第一电容矩阵为根据当n个电容触控按键的每个按键按下时n个电容触控按键的分布电容变化量而得到的，预设的第一电容均值矩阵为根据当n个电容触控按键的每个按键按下时n个电容触控按键的分布电容变化量的平均值而得到的；

检测当n个电容触控按键中其中一个按键按下时n个电容触控按键的分布电容变化量，并根据检测到所述n个电容触控按键的分布电容变化量，得到第二电容矩阵；

根据第二电容矩阵的平均值，得到第二电容均值；

根据预设的第一电容矩阵、预设的第一电容均值矩阵、第二电容矩阵和第二电容均值，得到相关系数矩阵R，其中，相关系数矩阵R包括每个按键的相关系数r；

根据相关系数矩阵R中每个按键的相关系数r，得到相关系数的最大值，并当相关系数的最大值大于预设阈值时，则判断相关系数的最大值对应的按键为被按下的按键。

2.如权利要求1所述的电容式触控按键的检测方法，其特征在于：所述检测方法还包括以下步骤：

检测当n个电容触控按键中每个按键按下时，n个电容触控按键的分布电容变化量，并根据每个按键按下时n个电容触控按键的分布电容变化量，得到预设的第一电容矩阵；

根据预设的第一电容矩阵的平均值，得到预设的第一电容均值矩阵。

3.如权利要求2所述的电容式触控按键的检测方法，其特征在于：所述预设的第一电容矩阵具体为：

其中C_ji为按下i按键时j按键上的分布电容变化量，i＝1，…，n正整数，j＝1，…，n正整数；

所述预设的第一电容均值矩阵具体为：

其中，为按下i按键时所有按键上的分布电容变化量的平均值。

4.如权利要求2所述的电容式触控按键的检测方法，其特征在于：所述第二电容矩阵具体为：

第二电容均值具体为：

其中C1-Cn为所述n个电容触控按键上的分布电容。

5.如权利要求2所述的电容式触控按键的检测方法，其特征在于：根据预设的第一电容矩阵、预设的第一电容均值矩阵、第二电容矩阵和第二电容均值，得到相关系数矩阵R的计算公式如下：

其中，A为第一电容矩阵，B为第二电容矩阵，T代表矩阵运算中的转置矩阵。

6.如权利要求5所述的电容式触控按键的检测方法，其特征在于：相关系数矩阵R具体为：

R＝(r₁…r_n)。

7.一种电容式触控按键的检测装置，其特征在于：所述检测装置包括感应电极和处理器；

感应电极，用于检测当n个电容触控按键中其中一个按键按下时n个电容触控按键的分布电容变化量，并将所述n个电容触控按键的分布电容变化量发送至所述处理器；

处理器，用于获取预设的第一电容矩阵和预设的第一电容均值矩阵，其中预设的第一电容矩阵为根据当n个电容触控按键的每个按键按下时n个电容触控按键的分布电容变化量而得到的，预设的第一电容均值矩阵为根据当n个电容触控按键的每个按键按下时n个电容触控按键的分布电容变化量的平均值而得到的；根据检测到所述n个电容触控按键的分布电容变化量，得到第二电容矩阵；根据第二电容矩阵的平均值，得到第二电容均值；根据预设的第一电容矩阵、预设的第一电容均值矩阵、第二电容矩阵和第二电容均值，得到相关系数矩阵R，其中，相关系数矩阵R包括每个按键的相关系数r；根据相关系数矩阵R中每个按键的相关系数r，得到相关系数的最大值，并当相关系数的最大值大于预设阈值时，可判断相关系数的最大值对应的按键为被按下的按键。

8.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于：所述感应电极还用于检测当n个电容触控按键中每个按键按下时，n个电容触控按键的分布电容变化量；

处理器，还用于根据每个按键按下时n个电容触控按键的分布电容变化量，得到预设的第一电容矩阵；根据预设的第一电容矩阵的平均值，得到预设的第一电容均值矩阵。