[发明专利]滑台式发射率测试装置

说明书

本发明涉及滑台式发射率测试装置，包括X电机，X轴，X平移台，样品，Y电机，Y轴，Y平移台，环形夹。所述X电机、X轴和X平移台组成一个整体，位于底部，所述样品放置于X平移台上，所述Y电机、Y轴、Y平移台和环形夹组成一个整体，垂直放置于X平移台上方，环形夹的环口恰好位于样品的正上方。本发明通过设计滑台式发射率测试装置，能够在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间，并提供连续可选的表面单元，可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率，还可直接得到特定发射率，提高测量发射率的精度，小巧简单，操作方便。

技术领域

本发明涉及仪器仪表领域，尤其涉及发射率测试装置。

背景技术

发射率作为一项能够表征材料辐射能力的热物性参数，在很多高科技领域中都有着不可替代的作用。一方面，准确的发射率数据与红外技术等基础研究息息相关。另一方面，发射率的研究在工业、军事、航空航天等工程技术领域有着宝贵的研究价值。

在测温过程中，为了先确定表面发射率，常用辅助方法是采用发射率已知的物体作为参考物。然而目前得到的发射率只能是单一或几个数值，不能得到近似从0到1连续的一系列数值，不能直接得到特定的发射率，劳动量大，十分不便。

现阶段对于发射率测试的装置不是很多，现技术有三个缺点，一是测温区间不够宽，不能近似从0到1；二是在工作温度区间内，参考物体发射率是一个定值或区域值，不能连续调节；三是不能直接得到特定发射率，使测量发射率精度受到影响。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有发射率测试装置的不足，提供了滑台式发射率测试装置。

本发明包括X电机，X轴，X平移台，样品，Y电机，Y轴，Y平移台，环形夹。所述X电机、X轴和X平移台组成一个整体，位于底部，所述样品放置于X平移台上，所述Y电机、Y轴、Y平移台和环形夹组成一个整体，垂直放置于X平移台上方，环形夹的环口恰好位于样品的正上方。

作为本发明的优选技术方案，所述X电机通过X轴连接X平移台，X电机工作时通过X轴的转动控制X平移台在X轴方向左右移动。

作为本发明的优选技术方案，所述样品为对称式深度连续渐变空腔阵列，作为发射率参考物。

作为本发明的优选技术方案，所述Y电机通过Y轴连接Y平移台，Y电机工作时通过Y轴的转动控制Y平移台在Y轴方向上下移动。

作为本发明的优选技术方案，所述环形夹被固定在Y平移台表面中心处，环口恰好位于样品的正上方。

本发明通过设计滑台式发射率测试装置，能够在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间，并提供连续可选的表面单元，可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率，还可直接得到特定发射率，提高测量发射率的精度，小巧简单，操作方便。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

图2为本发明底部的结构示意图。

图中：1.X电机；2.X轴；3.X平移台；4.样品；5.Y电机；6.Y轴；7.Y平移台；8.环形夹。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请参阅图1，图1为本发明的结构示意图。