[发明专利]温控设备及温控光化学系统

说明书

本发明实施例涉及温控领域，公开了一种温控设备及温控光化学系统。本发明实施例中，温控设备，包括：冷热发生模块、温度探头以及温度调控模块；温度调控模块分别与温度探头以及冷热发生模块连接；温度调控模块用于获取目标温度，并根据目标温度以及温度探头检测到的当前温度，控制冷热发生模块工作；其中，测试样品位于冷热发生模块内，温度探头位于测试样品内。本发明实施例还提供了一种温控光化学系统。采用本发明的实施方式，能够直接对测试样品内部温度进行实时精准地控制。

技术领域

本发明实施例涉及温控领域，特别涉及温控设备及温控光化学系统。

背景技术

温度是个基本的参数，它不仅影响有机体的生命活动，也会影响到机械化工等生产性能，不可控的自然和人为等因素会导致环境温度处于复杂的变化之中，所以温度调控尤为重要和普遍。在我们的日常科学研究中，需要控温的地方也有很多，比如化学合成反应、酶动力学研究、以及材料的光物理性质测试等。实验室里常见的控温分为加热和制冷两类，加热类控温常采用水浴、油浴或电热丝等方式进行升温，制冷类控温常采用冰水浴、液氮、压缩制冷剂等方式进行降温，而加热、制冷功能一体化的温控设备最常见的例子是冷暖空调，它采用压缩机实现制冷和加热，并可以外加电热丝辐热。

然而，本专利申请发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

现有技术中的控温方式普遍用于较大空间内的气温调节，无法实现对测试样品内部温度的精确控制。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种温控设备及温控光化学系统，能够直接对测试样品内部温度进行实时精准地控制。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种温控设备，包括：冷热发生模块、温度探头以及温度调控模块；

温度调控模块分别与温度探头以及冷热发生模块连接；

温度调控模块用于获取目标温度，并根据目标温度以及温度探头检测到的当前温度，控制冷热发生模块工作；

其中，测试样品位于冷热发生模块内，温度探头位于测试样品内。

本发明的实施方式还提供了一种温控光化学系统，包括：滑动机构、光源以及上述的温控设备；其中，滑动机构包括：直线滑轨、固定于直线滑轨的第一滑块以及固定于直线滑轨的第二滑块；

光源固定于第一滑块；

温控设备固定于第二滑块。

本发明实施方式相对于现有技术而言，测试样品位于冷热发生模块内，且测量温度的温度探头放置在测试样品中，温度探头以及冷热发生模块均与温度调控模块连接。这样，温度调控模块便能够根据获取到的目标温度，实时地根据温度探头检测到的当前温度，判断测试样品内部的温度是否满足要求，以便于在测试样品内部的温度不满足要求时，控制冷热发生模块工作，从而实现了对测试样品内部温度的精确控制。

另外，冷热发生模块包括：用于盛放测试样品的样品池、电热槽、半导体制冷槽以及散热器；样品池置于电热槽的凹槽内；半导体制冷槽夹设于电热槽以及散热器之间。这样，提供了冷热发生模块的一种具体实现形式，增加了本发明实施方式的可行性。并且，采用电热槽、半导体制冷槽进行制热、制冷，能够令冷热发生模块的体积较小，为温控设备能够进行精密实验测试提供了基础。

另外，半导体制冷槽包括：N片半导体制冷片以及可复式温度保险贴片；其中，N为大于2的自然数；N片半导体制冷片串行连接，构成制冷链路；可复式温度保险贴片连接在电源与制冷链路之间。这样，既能够对半导体制冷片进行保护，令半导体制冷片不至于过载损坏，又能避免更换保险丝的麻烦。

另外，冷热发生模块还包括：导热绝缘体；导热绝缘体夹设在电热槽与样品池之间。这样，令电热槽与样品池之间设有导热但绝缘的薄膜材料包裹，能够在增加冷热发生模块的体积的情况下，确保用电安全，且不影响冷热发生模块整体设计尺寸。