[发明专利]一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法

权利要求书

1.一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法，其特征在于：所述检测方法包括如下步骤：

(1)根据被检件的外形，规划超声发射探头和超声接收探头的扫查路径，使超声发射探头和超声接收探头在扫查时到被检件表面的距离相同；

(2)根据被检件的超声衰减系数和厚度确定超声波探伤仪的检测灵敏度；

(3)对被检件进行超声C扫检测，得到被检件的C扫灰度图像；

(4)计算被检件C扫灰度图像不同厚度处的补偿值，对C扫灰度图像进行灰度值补偿处理，得到补偿后的C扫图，根据C扫图进行缺陷判定；所述补偿值按照如下公式进行计算：

其中，k_x为补偿值，α为被检件的超声衰减系数，d_x为检测处的材料厚度，d₀为被检件最薄处的厚度。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：在步骤(4)中，进行补偿处理时，将C扫灰度图像的每个像素点的像素值C_x乘以k_x，得到补偿后的C扫图。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：在步骤(3)中，C扫灰度图像采用灰度显示，并使超声波探伤仪显示的穿透波波高幅值0～100％正比对应C扫灰度图像中0～255灰度值。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：在步骤(2)中，采用如下方法确定检测灵敏度：

将超声发射探头和超声接收探头对准被检件厚度最薄处，调节超声波探伤仪的dB值，使得穿透波波高幅值为80％～100％，则该dB值为检测灵敏度。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：所述检测方法为喷水式超声穿透法。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于：所述步骤(1)按照如下方式进行：

根据被检件的外形，规划超声发射探头和超声接收探头的扫查路径，确保超声发射探头和超声接收探头到构件表面的距离均为：0.5～1.5N，N为超声发射探头的近场长度。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于：所述近场长度N根据超声发射探头发射的超声波波长和探头晶片直径确定。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于：所述近场长度N按照如下公式确定：其中，D为探头晶片直径，λ为超声波波长。

9.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：所述变厚度材料为复合材料。

10.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：所述变厚度材料为单一材料。