[发明专利]一种接触式光纤连接器成端表面质量检测装置及方法

权利要求书

1.一种接触式光纤连接器成端表面质量检测装置，其特征在于：包括，

发射组件(100)，通过光纤连接线(701)与第一标准连接器(302)相连，并通过第一标准连接器(302)发送探测光波(A)到与之耦合的光纤连接器(303)；

功率波长调整组件(200)，与发射组件(100)相连，调整发射组件(100)的发射功率或光波波长；

适配组件(300)，包括套管(301)、第一标准连接器(302)和光纤连接器(303)，所述套管(301)连接所述第一标准连接器(302)和所述光纤连接器(303)；以及，

探测组件(400)，设于所述光纤连接器(303)的插芯(303a)的上方，检测所述探测光波(A)在光纤连接器成端表面(B)上由于成端表面缺陷产生的多重折射和漫反射光，并对其进行光感应。

2.根据权利要求1所述的接触式光纤连接器成端表面质量检测装置，其特征在于：还包括，

判别组件(500)，其与所述探测组件(400)和所述功率波长调整组件(200)相连接，

其中，当所述探测组件(400)进入不应临界点后，采集所述功率波长调整组件(200)的不应功率值P或不应波长值λ，并推算实际光纤连接损耗IL。

3.根据权利要求2所述的接触式光纤连接器成端表面质量检测装置，其特征在于：还包括，

校准组件(600)，其与判别组件(500)相连，包括第二标准连接器(601)、定值损耗连接器(602)和感应器(603)，

在光纤连接线(701)上设有分支光纤(702)，分支光纤(702)连接第二标准连接器(601)，并与定值损耗连接器(602)耦合，定值损耗连接器(602)上设置有感应器(603)，所述感应器(603)通过探测所述定值损耗连接器(602)的不应功率或不应波长变化，实时修正连接器功率-损耗曲线或波长-损耗曲线。

4.根据权利要求3所述的接触式光纤连接器成端表面质量检测装置，其特征在于：所述分支光纤(702)的数量大于等于1，分别连接不同适配方式的第一标准连接器(302)，用于检测不同适配方式的光纤连接器(303)。

5.根据权利要求3或4所述的接触式光纤连接器成端表面质量检测装置，其特征在于：还包括，

控制器(800)，与所述校准组件(600)相连，配合所述定值损耗连接器(602)，修正连接器功率-损耗曲线或波长损耗曲线。

6.根据权利要求5所述的接触式光纤连接器成端表面质量检测装置，其特征在于：所述判别组件(500)包括警示件(501)。

7.一种接触式光纤连接器成端表面质量检测方法，其特征在于：包括，标准连接器表面(C)、光纤连接器成端表面(B)和根据权利要求1所述的套管(301)，所述标准连接器表面(C)和所述光纤连接器成端表面(B)通过所述套管(301)耦合在一起，采用如权利要求1所述的装置，检测所述光纤连接器成端表面(B)；

其中，探测组件(400)置于所述光纤连接器(303)的插芯(303a)的上方，所述发射组件(100)发射探测光波(A)，且所述探测光波(A)入射到所述光纤连接器成端表面(B)，光纤连接器成端表面(B)上的缺陷点处对探测光波(A)产生多重折射和漫反射，经过所述插芯(303a)再次产生漫反射后，照射到所述探测组件(400)上；

其中，调节所述发射组件(100)的发射功率或光波波长，得到所述探测组件(400)的不应功率或不应波长，通过与设定的连接器功率损耗曲线或波长损耗曲线的比对，得到所述光纤连接器成端表面(B)的耦合损耗值，从而间接检测出所述光纤连接器成端表面(B)质量好坏。

8.根据权利要求7所述的接触式光纤连接器成端表面质量检测方法，其特征在于：所述套管(301)上设有通槽孔(301a)，所述探测光波(A)通过所述光纤连接器成端表面(B)、插芯(303a)和所述通槽孔(301a)，作用于所述探测组件(400)。

9.根据权利要求7或8所述的接触式光纤连接器成端表面质量检测方法，其特征在于：所述第一标准连接器(302)与相应的所述定值损耗连接器(602)耦合，得到所述探测组件(400)的不应功率或不应波长，得到功率-损耗曲线图或波长-损耗曲线图；

其中，所述连接器功率-损耗曲线或波长-损耗曲线中横轴为所述探测光波

(A)的发射功率值或波长值，竖轴为所述光纤连接器(303)耦合损耗值。