[发明专利]一种含镉样品中镉同位素的测量方法

说明书

本发明提供了一种含镉样品中镉同位素的测量方法，通过首先采用多接收等离子体质谱对待测含镉样品进行测试，得到质量数为110，111，112，113，114，116的镉同位素信号，质量数为117，120的锡同位素信号，质量数为105的钯同位素信号和质量数为115的铟同位素信号；然后通过质量数为105处的信号、质量数为120处的信号、质量数为117处的信号、质量数为115处的信号得到干扰元素¹¹⁰Pd、¹¹⁴Sn和¹¹³In信号，并将这些信号代入步骤1)进行信号扣除，得到校正后的¹¹⁰Cd，¹¹³Cd和¹¹⁴Cd的信号，实验结果表明，本发明提供的方法在待测样品中Sn/Cd≤0.5，In/Cd≤0.001，Pd/Cd≤0.0001时可以将钯、铟和锡对镉同位素的测试干扰校正回来，且不会对镉同位素的测试产生影响，进而提高了镉同位素测试精度和准确度。

技术领域

本发明涉及同位素测试领域，尤其涉及一种含镉样品中镉同位素的测量方法。

背景技术

在同位素测试过程中，该同位素体系中一些同质异位素的残留会直接影响同位素的仪器测量。由于镉元素的质量数跨度大，有8个稳定同位素，分别为¹⁰⁶Cd，¹⁰⁸Cd，¹¹⁰Cd，¹¹¹Cd，¹¹²Cd，¹¹³Cd，¹¹⁴Cd和¹¹⁶Cd；其同质异位素也很多，易干扰镉同位素的仪器测试。例如，¹¹⁰Pd、¹¹³In、¹¹⁴Sn分别会对¹¹⁰Cd、¹¹³Cd和¹¹⁴Cd的测试结果产生直接影响。因此，在测试Cd同位素的过程中，必须要定量评估干扰元素对其测试的影响。

Cloquet et al.(2005)进行了一系列锡元素添加实验，由此来评估锡对镉同位素测试的影响。实验发现当Sn/Cd比分别为0.3和10时，测试结果与真实值间有～0.2‰的偏离。但该研究并没有测试是否能对锡的干扰校正，更没有给出校正锡干扰的方法。此外，目前没有任何关于校正干扰元素钯和铟对镉同位素测试影响的方法。因此，定量评估以及校正干扰元素钯、铟和锡对提高镉同位素测试精度至关重要。

发明内容

有鉴于此，本发明所要解决的技术问题在于提供一种含镉样品中镉同位素的测量方法，该方法校正了干扰元素钯、铟和锡元素对对镉同位素测试产生的干扰，提高了样品测试的准确度。

本发明提供了一种含镉样品中镉同位素的测量方法，包括：

1)采用多接收等离子体质谱对待测含镉样品进行测试，得到质量数为110，111，112，113，114，116，117，120，105和115的同位素信号；

2)以质量数为105处的信号作为¹⁰⁵Pd_M信号，通过式(1)得到¹¹⁰Pd信号，

其中，为¹¹⁰Pd与¹⁰⁵Pd的自然丰度比值，

β为1.6～1.8；

以质量数为120处的信号作为¹²⁰Sn_M信号，通过式(2)得到¹¹⁴Sn信号，

其中，为¹¹⁴Sn与¹²⁰Sn然丰度比值，

β为1.6～1.8；