[发明专利]用于白点Mura检测的系统及方法有效
申请号: | 201810347583.3 | 申请日: | 2018-04-18 |
公开(公告)号: | CN108734696B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 李章焕;张逸炜 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/45;G06V10/764 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 康泉;宋志强 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 白点 mura 检测 系统 方法 | ||
1.一种用于检测显示面板中的一个或多个白点Mura缺陷的方法,所述方法包括:
接收所述显示面板的图像,所述图像包括所述一个或多个白点Mura缺陷;
将所述图像划分为多个斑块,所述多个斑块中的每个斑块对应于所述图像的m个像素×n个像素的区域,m和n是大于或等于1的整数;
针对所述多个斑块生成多个特征向量,所述多个特征向量中的每个特征向量对应于所述多个斑块中的一个斑块,并且包括一个或多个图像纹理特征以及一个或多个图像矩特征;以及
通过利用多类支持向量机,基于所述多个特征向量中的相应一个特征向量来对所述多个斑块中的每个斑块进行分类,以检测所述一个或多个白点Mura缺陷。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个斑块彼此不重叠。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个斑块中的每个斑块在尺寸上大于平均白点Mura缺陷。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个斑块中的每个斑块对应于所述显示面板的32个像素×32个像素的区域。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述一个或多个图像纹理特征包括对比度灰度共生矩阵纹理特征和非相似性灰度共生矩阵纹理特征中的至少一个。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述一个或多个图像矩特征包括三阶质心矩μ30、第五胡不变矩I5和第一胡不变矩I1中的至少一个。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,使用含缺陷的图像和无缺陷的图像两者来对所述多类支持向量机进行训练。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,对所述多个斑块进行分类包括:
将所述多个斑块的所述多个特征向量提供给所述多类支持向量机,以基于所述多个特征向量来识别所述一个或多个白点Mura缺陷;以及
将所述多个斑块中包含识别出的一个或多个白点Mura缺陷的一个或多个斑块标记为有缺陷。
9.一种对用于检测显示面板中的一个或多个白点缺陷的系统进行训练的方法,所述方法包括:
接收所述显示面板的图像,所述图像包括所述一个或多个白点缺陷;
将所述图像分解为第一斑块组和第二斑块组,所述第一斑块组和所述第二斑块组中的每个斑块组对应于所述显示面板的所述图像;
接收多个标签,所述多个标签中的每个标签对应于所述第一斑块组和所述第二斑块组中的一个斑块组中的斑块,并且指示有缺陷或者没有缺陷;
生成多个特征向量,所述多个特征向量中的每个特征向量对应于所述第一斑块组和所述第二斑块组中的一个斑块组中的斑块,并且包括一个或多个图像纹理特征以及一个或多个图像矩特征;以及
通过向多类支持向量机提供所述多个特征向量和所述多个标签来对所述多类支持向量机进行训练,以检测所述一个或多个白点缺陷。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述第二斑块组从所述第一斑块组处偏移并且与所述第一斑块组重叠。
11.根据权利要求9所述的方法,其中,所述第一斑块组和所述第二斑块组中的每个斑块组中的斑块对应于所述图像的m个像素×n个像素的区域,m和n是大于或等于1的整数。
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