[发明专利]一种基于二硫化钼量子点测定氧化石墨烯浓度的方法在审
申请号: | 201810348570.8 | 申请日: | 2018-04-18 |
公开(公告)号: | CN108693153A | 公开(公告)日: | 2018-10-23 |
发明(设计)人: | 曹海燕;石文兵;付翠翠;吴燕 | 申请(专利权)人: | 长江师范学院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人: | 张先芸 |
地址: | 408100 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二硫化钼 氧化石墨烯 量子点 化学试剂 荧光 检测 标准曲线回归方程 光学稳定性 量子点原液 长期稳定 光学探针 检测结果 绿色环保 强度减弱 荧光探针 激发态 水环境 疏水 照射 合成 | ||
1.一种基于二硫化钼量子点测定氧化石墨烯浓度的方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)制备二硫化钼量子点原液:将谷胱甘肽和钼酸钠以质量比为6:5的比例在水中充分混合,其中,每克钼酸钠需加入水280 mL,将上述混合后的溶液转移至水热反应釜中180-220℃下加热反应35-50 h,自然冷却后,进行离心分离,上清液即为二硫化钼量子点原液;
(2)绘制标准曲线:按体积比为0.3:1取上述二硫化钼量子点原液和不同浓度的氧化石墨烯标准溶液于不同的比色管中,用超纯水定容至5 mL,取定容后的溶液在激发波长340nm,发射波长410nm处测定荧光强度,以氧化石墨烯浓度为横坐标,相对荧光强度(I0-I)/I0为纵坐标绘制标准曲线;其中,I0为氧化石墨烯浓度为零时,二硫化钼量子点的荧光强度,I为二硫化钼量子点与不同浓度氧化石墨烯共同存在时对应的荧光强度;
(3)样品检测:按上述方法测定样品的荧光强度,将测得的荧光强度与步骤(2)获得的标准曲线进行比对即获得待测溶液的氧化石墨烯浓度。
2.根据权利要求1所述的基于二硫化钼量子点测定氧化石墨烯浓度的方法,其特征在于,步骤(2)中氧化石墨烯标准溶液的浓度分别为0.00 μg mL-1,0.05 μg mL-1,0.1 μg mL-1,0.5 μg mL-1,1 μg mL-1,2 μg mL-1,4 μg mL-1,7 μg mL-1,10 μg mL-1,12 μg mL-1,14 μgmL-1,17 μg mL-1,20 μg mL-1。
3.根据权利要求1所述的基于二硫化钼量子点测定氧化石墨烯浓度的方法,其特征在于,步骤(2)中所述的标准曲线回归方程为y =0.07938 + 0.01976x,R2 = 0.9950,其中,y为(
4.根据权利要求1所述的基于二硫化钼量子点测定氧化石墨烯浓度的方法,其特征在于,步骤(3)中待测氧化石墨烯的浓度范围为0.05-20 μg mL-1。
5.根据权利要求1所述的基于二硫化钼量子点测定氧化石墨烯浓度的方法,其特征在于,步骤(1)中所述的离心转速为14000 r/min,时间为15 min。
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