[发明专利]电学谱表征的自适应宽频电阻抗层析成像方法有效

专利信息
申请号: 201810350517.1 申请日: 2018-04-18
公开(公告)号: CN108652623B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 谭超;刘石玮;董峰 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: A61B5/0536 分类号: A61B5/0536;A61B5/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 电学 谱表 自适应 宽频 阻抗 层析 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种电学谱表征的自适应宽频电阻抗层析成像方法,包括下列步骤:

1)将被测介质置于由多电极构建的空间敏感阵列之中,采用宽频Chirp信号对被测介质进行激励,当系统完成对边界电压值的采集之后,选择完整持续周期的Chirp响应信号,利用数值分析对该信号进行频谱分析获得幅频图,据此求解幅频曲线的一阶导数,确定被测介质的电学敏感带宽,即幅频响应变化明显的频带,从而得到当前介质电学特性随频率变化的敏感带宽区间;

2)选择若干均匀分布于敏感带宽区间内的单频点,将各指定单频信号叠加为混频信号,对被测介质进行二次激励,并完成边界电压值的采集与解调,得到各个频率下的幅值和相位;

3)以某一频率激励下的电学信息为参考,利用图像重建算法,重建被测场域内的介质分布图像。

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