[发明专利]触控测试装置和触控测试方法

说明书

本发明提供了一种触控测试装置和触控测试方法，涉及触控测试技术领域，实现对敲击触控进行测试。该触控测试装置包括：伸缩机构，所述伸缩机构包括本体和连接于所述本体的伸缩部，所述伸缩部用于相对于所述本体伸缩运动；触控部件，所述触控部件连接于所述伸缩机构的伸缩部，所述伸缩部用于带动所述触控部件敲击触摸屏；获取单元，所述获取单元用于获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点；运算单元，所述运算单元用于计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差。该触控测试装置主要用于触摸屏的敲击触控测试。

技术领域

本发明涉及触控测试技术领域，尤其涉及一种触控测试装置和触控测试方法。

背景技术

随着智能设备的蓬勃发展，触摸屏凭借其既满足人们快速查阅信息的需求，又具有易于交互等优点，其市场化进程逐步加快。为了获得合格的触摸屏，通常需要对触摸屏进行测试。

目前，对触摸屏的触控测试方法为：在触摸屏上进行划线测试，即沿着触摸屏表面的平行方向进行触控测试，然而，在实际触控交互过程中，敲击触控响应的准确性是衡量触控测试的一项重要指标，因此急需实现对敲击触控的测试。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种触控测试装置和触控测试方法，实现对敲击触控进行测试。

为达到上述目的，本发明主要提供如下技术方案：

一方面，本发明实施例提供一种触控测试装置，包括：

伸缩机构，所述伸缩机构包括本体和连接于所述本体的伸缩部，所述伸缩部用于相对于所述本体伸缩运动；

触控部件，所述触控部件连接于所述伸缩机构的伸缩部，所述伸缩部用于带动所述触控部件敲击触摸屏；

获取单元，所述获取单元用于获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点；

运算单元，所述运算单元用于计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差。

具体地，所述伸缩机构用于带动所述触控部件多次敲击触摸屏；

所述获取单元用于获取所述触控部件多次敲击所述触摸屏的多个实际检测坐标点，所述运算单元用于计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点分别与多个所述实际检测坐标点之间的距离的最大值，该最大值为所述触控部件敲击所述触摸屏的触控坐标误差。

进一步地，上述的触控测试装置还包括：

移动机构，所述移动机构连接于所述伸缩机构的本体，所述移动机构用于带动所述本体至少沿平行于所述触摸屏的方向移动。

具体地，所述触控部件的数量为多个，所述伸缩机构的数量与所述触控部件的数量相同，每个所述伸缩机构的伸缩部分别连接于每个所述触控部件；

多个所述伸缩机构的本体均连接于一个所述移动机构。

具体地，所述触控测试装置包括控制单元，多个所述伸缩机构分别连接于所述控制单元，所述控制单元用于控制多个所述伸缩机构的伸缩部依照预设次序依次交替伸缩运动，以带动相应的所述触控部件依照所述预设次序依次交替敲击触摸屏。

进一步地，上述的触控测试装置还包括：

载台，所述载台用于放置所述触摸屏。

另一方面，本发明实施例提供一种触控测试方法，包括：

通过控制触控部件进行敲击触摸屏；

获取所述触控部件敲击所述触摸屏的实际检测坐标点；

计算所述触控部件敲击所述触摸屏的目标坐标点与所述实际检测坐标点之间的触控坐标误差。