[发明专利]用于磁场测试的管型传感器的调试装置及调试方法

说明书

本发明公开了一种用于磁场测试的管型传感器的调试装置及调试方法，调试装置包括工作台，安装在工作台上的铜管调整装置、可移动的电磁线圈、第一芯片调节装置和第二芯片调节装置；铜管调整装置包括位于工作台上的铜管支座，以及安装在铜管支座上的可夹持铜管的铜管夹具，铜管支座可相对于工作台水平旋转，铜管夹具可相对于铜管支座竖直旋转，电磁线圈安装在工作台上，并套设在铜管外；第一芯片调节装置设置在工作台上，并可相对于工作台水平旋转；第二芯片调节装置与第一芯片调节装置相连接，并可相对于第一芯片调节装置竖直旋转，第二芯片调节装置设有可夹持芯片一次性夹具的芯片夹具二。调试方法包括确定铜管的安装位置和调节芯片的安装位置。

技术领域

本发明涉及一种磁场测试传感器的制作设备，特别涉及一种用于磁场测试的管型传感器的调试装置及调试方法。

背景技术

管型磁场测试探头广泛应用在方向定位和磁场局域性测量标定领域中，在进行管型磁场测试探头的制作时，要将霍尔芯片装入到铜管中，并同时确保霍尔芯片的感应方向和铜管的几何轴线相重合。申请号为CN201410597424.0的中国发明专利，采用了相关的调试装置来实现芯片在铜管中准确定位，但是该专利存在铜管固定支架的定位操作复杂、平台的操作空间狭窄、铜管与芯片封装操作不便等问题，严重影响了产品的生产效率和产品质量。

申请号为CN201410592364.3的中国发明专利，提出了一种磁场测试传感器制作工装及制作工艺。该专利的装置稳定性差、功能结构设计比较复杂，尤其是铜管和芯片共用同一套调整机构直接导致了传感器的制作精度偏低，另外由于磁场的螺线圈是固定的，影响到了芯片的封装。

当前用于磁场测试的管型磁场调试及辅助装配装置结构复杂、生产效率低且装配质量差。主要表现在：铜管的定位及夹紧结构复杂，铜管定位时与芯片调整共用一套机构致使调整机构精度的损失快；调整机构结构复杂，空间占用体积大，严重影响平台操作空间，影响生产效率；铜管在调试时处在固定的磁线圈之中，而霍尔芯片在铜管中，狭窄的空间影响芯片的封装效率和封装质量。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中所存在的用于磁场测试的管型磁场调试及辅助装配装置结构复杂、生产效率低且装配质量差的不足，提供一种用于磁场测试的管型传感器的调试装置及调试方法。

为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案：

一种用于磁场测试的管型传感器的调试装置，包括工作台，安装在所述工作台上的铜管调整装置、可移动的电磁线圈、第一芯片调节装置和第二芯片调节装置。

所述铜管调整装置包括位于所述工作台上的铜管支座，以及安装在所述铜管支座上的可夹持铜管的铜管夹具，所述铜管支座可相对于工作台水平旋转，所述铜管夹具可相对于铜管支座竖直旋转，所述电磁线圈安装在所述工作台上，并套设在所述铜管外。

调试时，先在铜管夹具上安装特拉斯计，分别对铜管调整装置进行水平旋转和竖直旋转，通过特拉斯计读数的最大值，确定铜管夹具的正确安装位置后，再将特拉斯计更换为铜管，确保了铜管在电磁线圈中的准确定位。所述铜管调整装置和芯片调节装置完全独立，既保证了精度，又避免了与芯片调节装置的共用，减小了精度损失。

所述第一芯片调节装置设置在所述工作台上，并可相对于所述工作台水平旋转；所述第二芯片调节装置与所述第一芯片调节装置相连接，并可相对于所述第一芯片调节装置竖直旋转，所述第二芯片调节装置设有可夹持芯片一次性夹具的芯片夹具二。

正确安装完铜管后，还需要对霍尔芯片的位置进行调整。本发明通过独立设置的第一芯片调节装置和第二芯片调节装置来分别实现芯片的水平旋转和竖直旋转，从而确保霍尔芯片的感应方向和铜管的几何轴线相重合。芯片调节装置独立设置，调整范围小，精度更高且保持性更好。