[发明专利]一种测试机的智能控制方法

说明书

本发明公开了一种测试机的智能控制方法，具体步骤为：IC芯片测试分选管理系统根据生产需求，从待测芯片库中将待测试的IC芯片调出；传送机构将待测试的IC芯片传送到测试分选机台的送料机构上，同时扫描待测试的IC芯片料盒上的条形码，并将扫描结果传输至IC芯片测试分选管理系统；IC芯片测试分选管理系统根据接收到的传送机构扫描信息，调出相应的测试分选程序，并将测试分选程序传输至测试分选机台的PLC；生产完成后，传送机构将分选后的IC芯片分别传送至良品库和不良品库。

技术领域

本发明涉及一种测试机的智能控制方法。

背景技术

当网络、电子通讯及各种电子消费品占据人们生活的各个角落时，奠定这一切基础的半导体产业毋庸置疑地成为国家科技发展中的重中之重。这些微电子行业大量使用的IC芯片具有体积小、携带方便、价格便宜等特点，广泛应用于各类工业电子设备、各种家用电器、仪表等。

IC芯片制造完成后，需要对其进行检测、分选。随着电子产品的集成度越来越高，对IC芯片的需求量也越来越大。IC芯片的质量将影响整个电子产品的质量，所以IC芯片的测试分选是十分重要的工序。

目前，IC芯片测试分选虽然大部分采用了先进的基于PLC的芯片测试分选设计，但是在功能比较单一，在实际生成过程中，仍旧需要测试工作人员在每个型号甚至每个批次的IC芯片测试分选前进行程序预设置以及预调试工作。这种生成工作方式不仅需要消耗人力，还容易造成人为的差错。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种替代人工的测试机的智能控制方法。

本发明为解决上述技术问题采用以下技术方案：

本发明提供一种测试机的智能控制方法，包括以下具体步骤：

步骤1，IC芯片测试分选管理系统根据生产需求，从待测芯片库中将待测试的IC芯片调出；

步骤2，传送机构将待测试的IC芯片传送到测试分选机台的送料机构上，同时扫描待测试的IC芯片料盒上的条形码，并将扫描结果传输至IC芯片测试分选管理系统；

步骤3，IC芯片测试分选管理系统根据接收到的传送机构扫描信息，调出相应的测试分选程序，并将测试分选程序传输至测试分选机台的PLC；

步骤4，生产完成后，传送机构将分选后的IC芯片分别传送至良品库和不良品库。

作为本发明的进一步优化方案，所述传送机构包括料盒运输车以及设置在料盒运输车上的用于搬运IC芯片料盒的机械手，机械手上设置有条形码扫描仪。

作为本发明的进一步优化方案，料盒运输车上设置有对其上放置的IC芯片料盒进行固定的料盒固定装置。

作为本发明的进一步优化方案，料盒运输车上设置有避障装置。

作为本发明的进一步优化方案，避障装置为激光避障模块。

作为本发明的进一步优化方案，料盒运输车上设置有多个放置IC芯片料盒的料盒运送位。

本发明采用以上技术方案与现有技术相比，具有以下技术效果：本发明通过IC芯片测试分选管理系统对测试分选程序的调配，形成对测试分选程序的准确选择，提高了测试分选效率。本发明采用了传送机构进行待测IC芯片以及分选后良品和不良品的传送，提高了生产安全系数；降低了劳动者的劳动强度。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施方式，且描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。