[发明专利]元件通电测试方法与通电测试系统

权利要求书

1.一种元件通电测试方法，由一通电测试系统执行，以同时检测一个双端元件及一个三端元件，所述三端元件包含一第一端、一控制端，及一接地的第二端，所述通电测试系统包含一电源供应装置，及一示波装置，所述电源供应装置包括一电连接所述双端元件的阳极的电流输出端、一电连接所述双端元件的阴极与所述三端元件的所述第一端的电压输出端，及一电连接所述三端元件的所述控制端的控制端，所述示波装置耦接于所述双端元件的阳极与阴极，并耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端，其特征在于，所述元件通电测试方法包含以下步骤：

(A)所述电源供应装置经由所述电流输出端提供一正向电流到所述双端元件的阳极，且经由所述电压输出端提供一正向电压到所述双端元件的阴极；

(B)所述电源供应装置经由所述控制端提供一脉波信号到所述三端元件的所述控制端，且使所述脉波信号N次切换于一使所述三端元件导通的第一准位与一使所述三端元件不导通的第二准位间，N≧1；

(C)当所述脉波信号处于所述第一准位使所述三端元件导通时，所述示波装置侦测流经所述双端元件的电流而得到一第一电流信息，且侦测流经所述三端元件的电流而得到一第二电流信息；及

(D)当所述脉波信号处于所述第二准位使所述三端元件不导通时，所述示波装置侦测所述双端元件的跨压而得到一第一电压信息，且侦测所述三端元件的跨压而得到一第二电压信息。

2.根据权利要求1所述的元件通电测试方法，其特征在于，所述示波装置包括一示波器、一耦接于所述双端元件的阳极的第一电流探棒，及一耦接于所述三端元件的所述第一端的第二电流探棒，所述步骤(C)包括以下子步骤：

(C1)所述第一电流探棒侦测流经所述双端元件的电流而得到所述第一电流信息，且所述第二电流探棒侦测流经所述三端元件的电流而得到所述第二电流信息，及

(C2)所述示波器分别接收来自所述第一电流探棒的所述第一电流信息，与接收来自所述第二电流探棒的所述第二电流信息。

3.根据权利要求1所述的元件通电测试方法，其特征在于，所述示波装置包括一示波器、一耦接于所述双端元件的阳极与阴极的第一电压探棒，及一耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端的第二电压探棒，所述步骤(D)包括以下子步骤：

(D1)所述第一电压探棒侦测所述双端元件的跨压而得到所述第一电压信息，且所述第二电压探棒侦测所述三端元件的跨压而得到所述第二电压信息，及

(D2)所述示波器分别接收来自所述第一电压探棒的所述第一电压信息，与接收来自所述第二电压探棒的所述第二电压信息。

4.一种通电测试系统，适用于同时检测一个双端元件及一个三端元件，所述三端元件包含一第一端、一控制端，及一接地的第二端，其特征在于，所述通电测试系统包含：

一电源供应装置，包括，

一电流输出端，电连接所述双端元件的阳极，并提供一正向电流到所述双端元件的阳极，

一电压输出端，电连接所述双端元件的阴极与所述三端元件的所述第一端，并提供一正向电压到所述双端元件的阴极与所述三端元件的所述第一端，及

一控制端，电连接所述三端元件的所述控制端，并提供一脉波信号到所述三端元件的所述控制端，使所述脉波信号N次切换于一使所述三端元件导通的第一准位与一使所述三端元件不导通的第二准位间，N≧1；及

一示波装置，耦接于所述双端元件的阳极与阴极，并耦接于所述三端元件的所述第一端与所述第二端，当所述脉波信号处于所述第一准位使所述三端元件导通时，所述示波装置侦测流经所述双端元件的电流而得到一第一电流信息，且侦测流经所述三端元件的电流而得到一第二电流信息，当所述脉波信号处于所述第二准位使所述三端元件不导通时，所述示波装置侦测所述双端元件的跨压而得到一第一电压信息，且侦测所述三端元件的跨压而得到一第二电压信息。