[发明专利]一种形貌可控的GaN纳米线阵列的制备方法有效

专利信息
申请号: 201810377638.5 申请日: 2018-04-25
公开(公告)号: CN108598238B 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 柴旭朝;焦岳超;孙俊;瞿博阳;张朋;周同驰;方向前 申请(专利权)人: 中原工学院
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/00;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 代理人: 时立新;付艳丽
地址: 450000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 纳米线 纳米线阵列 制备 流量比 竹节 流出 形貌可控 圆台 生长 递减 形貌 固定的 阶段式 可调控 图形化 圆台型 圆柱型 衬底
【说明书】:

发明针对GaN纳米线的制备,提供一种形貌可控的GaN纳米线阵列的制备方法,所述GaN纳米线阵列由圆柱、圆台或竹节型GaN纳米线在图形化衬底上排列而成,所述圆柱型GaN纳米线生长时,NH3和TMGa以固定的流量比流出,所述圆台型GaN纳米线生长时,NH3和TMGa以渐进式递减的流量比流出,所述竹节型GaN纳米线生长时,NH3和TMGa以阶段式递减的流量比流出。本发明可调控GaN纳米线的形貌,制备出圆柱、圆台以及竹节型的纳米线阵列。

技术领域

本发明属于GaN纳米线制备技术领域,具体涉及一种形貌可控的GaN纳米线阵列的制备方法。

背景技术

GaN作为III-V族氮化物材料体系的代表,具有直接带隙、宽禁带和高电子迁移率等优良特性。但由于GaN与衬底间(单晶Si或蓝宝石衬底)的大失配性使异质外延的二维单晶薄膜呈现出高密度的位错,大大降低了GaN基LED器件的发光效率。GaN纳米线作为一维结构能够补偿与衬底间的大失配性、抑制光传输过程中的反射、以及提升光的提取效率,这一技术正是实现GaN基LED器件高效发光的有效手段。但推动GaN基纳米线LED器件的商业化和产业化还亟需解决一系列问题,其中最为关键问题是如何实现GaN纳米线的制备。

发明内容

本发明针对GaN纳米线的制备问题,提供一种形貌可控的GaN纳米线阵列的制备方法,可调控纳米线的形貌,制备出圆柱、圆台以及竹节型的GaN纳米线阵列。

本发明采用如下技术方案:

一种形貌可控的GaN纳米线阵列,所述GaN纳米线阵列由圆柱、圆台或竹节型GaN纳米线在图形化衬底上排列而成。

上述形貌可控的GaN纳米线阵列的制备方法,所述圆柱型GaN纳米线生长时,NH3和TMGa以固定的流量比流出,所述圆台型GaN纳米线生长时,NH3和TMGa以渐进式递减的流量比流出,所述竹节型GaN纳米线生长时,NH3和TMGa以阶段式递减的流量比流出。

进一步地,所述渐进式递减的流量比是指,在整个生长时间内,NH3的流量值为f N,TMGa的流量值的初始值为f1,终值为f2,f1<f2,且f1以步阶值a递增至f2。

进一步地,所述阶段式递减的流量比是指,在整个生长时间内,NH3的流量值为f N,TMGa的流量值分n个时间段设置,且在这n个时间段内,TMGa的流量值依时间次序逐渐增大;具体地,在0~t1的时间段内,TMGa的流量值为f1;在t1~t2的时间段内,TMGa的流量值为f2……在t(n-1)~tn的时间段内,TMGa的流量值为fn,且f1<f2……<fn。

进一步地,所述GaN纳米线生长之前,需预先在图形化衬底上生长GaN缓冲层,所述GaN缓冲层经退火处理后,再同质外延生长GaN纳米线阵列。

进一步地,所述图形化衬底通过电子束曝光或纳米压印技术制备得到。

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