[发明专利]信号校正方法、方法的用途、校正测量信号的系统及示波器有效

专利信息
申请号: 201810378489.4 申请日: 2018-04-25
公开(公告)号: CN108871381B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 马丁·佩诗珂;安德里亚斯·齐格勒 申请(专利权)人: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
主分类号: G01D3/028 分类号: G01D3/028;G01R13/02
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 王小衡;胡彬
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 信号 校正 方法 用途 测量 系统 示波器
【权利要求书】:

1.一种用于校正被测量的信号的信号校正方法,其具有以下步骤:

a)处理在第一测量输入端(26)处的第一信号(S1)的数字表示,

b)处理在第二测量输入端(28)处的与利用传递函数(H)进行卷积的所述第一信号(S1)相对应的第二信号(S2)的数字表示,

c)确定用于校正所述被测量的信号的传递函数(H),

d)将待测信号(S)施加到所述第二测量输入端(28),在第二测量输入端(28)处产生第三信号(S3)的数字表示,

e)将造成干扰的信号(I)施加到所述第一测量输入端(26),产生所述造成干扰的信号(I)的数字表示,并且

f)通过使用所述造成干扰的信号(I)的数字表示与所述传递函数(H)的卷积来校正所述第三信号(S3)的数字表示,以获得经校正的被测量的信号(C)。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于通过将所述造成干扰的信号(I)施加到所述第一测量输入端(26)来创建所述第一信号(S1)。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于所述造成干扰的信号(I)是干扰所述待测信号(S)的干扰信号。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于所述第三信号(S3)包括所述待测信号(S)和由所述造成干扰的信号(I)所造成的干扰。

5.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于所述第二信号(S2)是所述第三信号(S3)的一部分。

6.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于所述第三信号(S3)通过实时确定所述传递函数(H)而被实时校正。

7.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于所述第一测量输入端(26)和所述第二测量输入端(28)是相干的。

8.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于第一信号(S1)是周期性信号。

9.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于第一信号(S1)的振幅比所述待测信号(S)的振幅大至少一个数量级。

10.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于施加到所述第一测量输入端(26)的第一信号(S1)是校准信号,且所述第二信号(S2)是使用短路的差分探头(22)测量的电压。

11.一种根据权利要求1-10中任一项所述的方法的用途,用于消除被测量的信号的共模干扰。

12.一种用于校正被测量的信号的系统(24),其包括第一测量输入端(26)、第二测量输入端(28)以及控制单元(30),其中模数转换器(32、34)被分配给所述测量输入端(26、28)中的每个测量输入端,并且其中所述控制单元(30)被配置为执行根据权利要求1到10中任一项所述的方法。

13.一种包括根据权利要求12所述的系统(24)的示波器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗德施瓦兹两合股份有限公司,未经罗德施瓦兹两合股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810378489.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top