[发明专利]一种样本分析系统和一种样本分析系统控制方法

权利要求书

1.一种样本分析系统，其特征在于，包括样本移送设备、第一样本分析仪和第二样本分析仪，

所述样本移送设备包括：

第一进给通道和第二进给通道，所述第一进给通道和所述第二进给通道分别与所述第一样本分析仪和第二样本分析仪对应；

快速通道，连接在所述第一进给通道和所述第二进给通道之间，所述快速通道用于将所述第一进给通道上的样本架运送至所述第二进给通道；

第一装载缓存区和第一卸载缓存区，所述第一装载缓存区和所述第一卸载缓存区分别与所述第一进给通道对应；

第二装载缓存区和第二卸载缓存区，所述第二装载缓存区和所述第二卸载缓存区分别与所述第二进给通道对应；

第一装载机构和第一卸载机构，所述第一装载机构用于将所述第一装载缓存区存放的样本架运送至所述第一进给通道；所述第一卸载机构用于将所述第一进给通道上的样本架运送至所述第一卸载缓存区存放；及

第二装载机构和第二卸载机构，所述第二装载机构用于将所述第二装载缓存区存放的样本架运送至所述第二进给通道；所述第二卸载机构用于将所述第二进给通道上的样本架运送至所述第二卸载缓存区存放。

2.如权利要求1所述的一种样本分析系统，其特征在于，所述样本移送设备还包括手动进样装置，所述手动进样装置对应于所述第一进给通道，所述手动进样装置为开放式进样装置或封闭式进样装置。

3.如权利要求1所述的一种样本分析系统，其特征在于，所述样本移送设备还包括手动进样装置，所述手动进样装置对应于所述第二进给通道，所述手动进样装置为开放式进样装置或封闭式进样装置。

4.如权利要求1所述的一种样本分析系统，其特征在于，所述第二样本分析仪的检测项目数量多于所述第一样本分析仪的检测项目数量且所述第二样本分析仪至少包括所述第一样本分析仪的部分检测项目。

5.如权利要求1至4中任一项所述的一种样本分析系统，其特征在于，所述样本分析系统还包括：第三样本分析仪，所述第一样本分析仪、第二样本分析仪和第三样本分析仪依次设置；

所述样本移送设备还包括：

第三进给通道、第三装载缓存区和第三卸载缓存区，所述第三装载缓存区和所述第三卸载缓存区分别与所述第三进给通道对应；以及

第三装载机构和第三卸载机构，所述第三装载机构用于将所述第三装载缓存区存放的样本架运送至所述第三进给通道；所述第三卸载机构用于将所述第三进给通道上的样本架运送至所述第三卸载缓存区存放；

所述第三进给通道与所述第二进给通道之间连接有第二快速通道。

6.如权利要求1至5中任一项所述的一种样本分析系统，其特征在于，所述第一进给通道为双向传送通道，所述第一进给通道还用于将已检测的样本架反向传送至第一样本分析仪处进行二次分析。

7.如权利要求1至6中任一项所述的一种样本分析系统，其特征在于，所述第二进给通道为双向传送通道，所述第二进给通道还用于将已检测的样本架反向传送至第二样本分析仪处进行二次分析。

8.根据权利要求1至7任一项所述的一种样本分析系统，其特征在于，所述第一装载机构包括：

支架，用于支撑所述第一装载机构；

推爪，用于带动所述第一装载缓存区存放的所述样本架朝向所述第一进给通道滑动；

推爪驱动装置，设置于所述支架上，用于驱动所述推爪执行上述运动过程。

9.根据权利要求8所述的一种样本分析系统，其特征在于，所述推爪驱动装置包括：

水平推送组件，设置于所述支架上；

推爪安装座，与所述水平推送组件相联动，所述水平推送组件能够带动所述推爪安装座进行水平运动；及

抵持组件，设置于所述推爪安装座上；

其中，所述抵持组件能够带动所述推爪向样本架靠近以使所述推爪与样本架相抵持联动，所述水平推送组件能够带动所述推爪安装座进行水平运动，进而使所述推爪带动所述样本架在所述面板上朝向所述第一进给通道滑动。