[发明专利]一种基于随机梯度下降法的网络工作参数优化方法有效
申请号: | 201810380636.1 | 申请日: | 2018-04-25 |
公开(公告)号: | CN108601034B | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 隆克平;王欢;皇甫伟;张海君 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | H04W16/18 | 分类号: | H04W16/18;H04W24/02 |
代理公司: | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人: | 张仲波 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 随机 梯度 下降 网络 工作 参数 优化 方法 | ||
1.一种基于随机梯度下降法的网络工作参数优化方法,其特征在于,包括:
获取待优化的工作参数;
在采样点中随机抽取t个采样点;
根据获取的待优化的工作参数,确定待优化目标区域中所述t个采样点的整体覆盖率,所述整体覆盖率等于所述t个采样点被覆盖的覆盖效果的均值,每个采样点被覆盖的覆盖效果为[0,1]之间的连续值;
根据所述t个采样点的整体覆盖率,利用连续求导法则,确定工作参数的导数向量;
根据确定的工作参数的导数向量,确定优化后的工作参数;
其中,所述根据确定的工作参数的导数向量,确定优化后的工作参数包括:
利用公式Pk+1=Pk+learning_rate*Dk更新第k+1代的工作参数Pk+1,直至满足预设的最大迭代次数,其中,Pk表示第k代的工作参数,Dk表示第k代的工作参数的导数向量,learning_rate表示学习率;
其中,所述根据获取的待优化的工作参数,确定待优化目标区域中所述t个采样点的整体覆盖率包括:
确定用于评判覆盖效果的参数;其中,确定的用于评判覆盖效果的参数包括:参考信号接收功率和信号与干扰加噪声比;
根据获取的水平角和垂直角,确定采样点到天线的增益;
设置天线发射功率,计算天线到采样点之间的路损;
根据确定的增益、设置的天线发射功率、计算得到的路损,确定参考信号接收功率和信号与干扰加噪声比;
根据确定的参考信号接收功率和信号与干扰加噪声比,结合S型函数,得到待优化目标区域中所述t个采样点被覆盖的覆盖效果,每个采样点被覆盖的覆盖效果为[0,1]之间的连续值;
对所述t个采样点被覆盖的覆盖效果求平均值,得到所述t个采样点的整体覆盖率;
其中,每个采样点被覆盖的覆盖效果表示为:
coverpoint=sigmoid(RSRP-Thrsrp)*sigmoid(SINR-Thsinr)
其中,coverpoint表示采样点被覆盖的覆盖效果,SINR表示信号与干扰加噪声比,RSRP表示参考信号接收功率,Thrsrp、Thsinr分别表示预先设置的RSRP阈值和SINR阈值,sigmoid(x)为S型函数,
2.根据权利要求1所述的基于随机梯度下降法的网络工作参数优化方法,其特征在于,所述获取待优化的工作参数包括:
获取天线下倾角和天线方位角;
获取天线相对于所述t个采样点的采样点下倾角和采样点方位角;
根据获取的天线下倾角、天线方位角、采样点下倾角和采样点方位角,确定水平角和垂直角。
3.根据权利要求2所述的基于随机梯度下降法的网络工作参数优化方法,其特征在于,所述水平角表示为:alpha=azimuth_gt-P_azimuthk;
所述垂直角表示为:beta=P_tiltk-tilt_gt;
其中,alpha表示水平角,P_azimuthk表示第k次迭代的天线方位角,azimuth_gt表示采样点方位角;beta表示垂直角,P_tiltk表示第k次迭代的天线下倾角,tilt_gt表示采样点下倾角。
4.根据权利要求3所述的基于随机梯度下降法的网络工作参数优化方法,其特征在于,确定的采样点到天线的增益表示为:
Gain=f1(alpha)-(abs(alpha)/pi)*(f1(pi)-f2(pi-beta))-(1-abs(alpha)/pi)*(f1(0)-f2(beta))
其中,Gain表示增益,abs表示绝对值函数,f1和f2是对水平角和垂直角的增益拟合函数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京科技大学,未经北京科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810380636.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。