[发明专利]物品检测方法和装置

权利要求书

1.一种物品检测装置，其中，所述物品检测装置包括：收发单元、第一处理单元；待检测物品放置在所述收发单元与环境中的干扰反射物之间；

所述收发单元向所述待检测物品发送第一发射信号；并接收所述第一发射信号经所述待检测物品反射后的第一接收信号；

所述第一处理单元根据所述第一接收信号和所述第一发射信号获取第一基带信号，根据窗函数对所述第一基带信号进行处理，以获得第一接收信号的第一特性，根据所述第一特性检测所述待检测物品；

其中，所述待检测物品与所述干扰反射物的距离不小于所述窗函数的主瓣宽度和所述收发单元的频率分辨率的比值与所述收发单元的距离分辨率的乘积，所述待检测物品与所述收发单元的距离不小于所述收发单元的距离分辨率。

2.根据权利要求1所述的装置，所述装置还包括：部署单元，其用于部署所述收发单元、所述待检测物品；

所述部署单元包括：

计算模块，其用于获取收发单元发出的第三发射信号仅经过所述干扰反射物反射后的第三接收信号的主频率；

第一确定模块，其用于根据所述主频率确定所述干扰反射物的位置；

第二确定模块，其用于根据所述干扰反射物的位置确定所述收发单元、所述待检测物品的位置。

3.根据权利要求2所述的装置，其中，所述计算模块包括：

第一处理模块，其用于根据所述第三发射信号和所述第三接收信号获取第三基带信号；

第二处理模块，其用于根据所述窗函数对所述第三基带信号进行频率校正处理，以获得所述主频率。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一处理单元将所述第一接收信号和所述第一发射信号混频后获取第一基带信号，根据预定的采样周期将所述第一基带信号转换为基带信号矩阵；其中，所述矩阵的行数等于采样周期数，所述矩阵的列数等于一个采样周期的采样点数；

将所述基带信号矩阵逐列取平均，获得行向量；

将所述行向量点乘所述窗函数后作快速傅里叶变换，得到信号频谱，以获得所述第一接收信号的第一特性。

5.根据权利要求4所述的装置，其中，所述第一处理单元还用于对所述信号频谱进行幅值校正，以获得所述第一接收信号的第一特性。

6.一种物品检测装置，其中，所述装置包括：收发单元、附加反射物、第二处理单元；待检测物品放置在所述收发单元与所述附加反射物之间，所述附加反射物放置在所述待检测物品与环境中的干扰反射物之间；

所述收发单元向置于所述收发单元和所述附加反射物之间的待检测物品发送第二发射信号；并接收所述第二发射信号经所述待检测物品和所述附加反射物反射后的第二接收信号；其中，所述第二接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，所述第一反射信号是所述第二发射信号经所述待检测物品反射后的信号，所述第二反射信号是所述第二发射信号经所述待检测物品透射后、经过所述附加反射物反射后再次经所述待检测物品透射的信号；

所述第二处理单元根据所述第二接收信号和所述第二发射信号获取第二基带信号，根据窗函数对所述第二基带信号进行处理，以获得第一反射信号的第一特性以及第二反射信号的第一特性，根据所述第一反射信号的第一特性以及第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品；

其中，所述附加反射物与所述干扰反射物的距离不小于所述窗函数的主瓣宽度和所述收发单元的频率分辨率的比值与所述收发单元的距离分辨率的乘积，所述附加反射物与所述待检测物品的距离不小于所述窗函数的主瓣宽度和所述收发单元的频率分辨率的比值与所述收发单元的距离分辨率的乘积，所述待检测物品与所述收发单元的距离不小于所述收发单元的距离分辨率。

7.根据权利要求6所述的装置，所述装置还包括：部署单元，其用于部署所述收发单元、所述待检测物品和所述附加反射物；

所述部署单元包括：

计算模块，其用于获取收发单元发出的第三发射信号仅经过所述干扰反射物反射后的第三接收信号的主频率；

第一确定模块，其用于根据所述主频率确定所述干扰反射物的位置；

第二确定模块，其用于根据所述干扰反射物的位置确定所述收发单元、所述附加反射物和所述待检测物品的位置。