[发明专利]螺栓柱面导波检测系统及其检测方法

权利要求书

1.一种螺栓柱面导波检测系统，其特征在于，包括：

相控阵导波探头，用于向所述螺栓进行电子扫查并对所述螺栓的缺陷进行测量、定位和定量；

螺栓检测仪，与所述相控阵导波探头连接，所述螺栓检测仪用于对所述相控阵导波探头反射的导波脉冲进行相控阵成像处理；

耦合剂，是一种介质，导波通过它入射到所述螺栓介质中；

螺栓架，所述螺栓设置于所述螺栓架，所述螺栓架用于放置或调整所述螺栓；

标准试块，用于测试设备系统的脉冲波显示的垂直线性误差、水平线性误差、动态范围、盲区、分辨力等；

对比试块，用于调节设备灵敏度。

2.根据权利要求1所述的一种螺栓柱面导波检测系统，其特征在于，所述耦合剂为水、机油或专用耦合剂。

3.根据权利要求1所述的一种螺栓柱面导波检测系统，其特征在于，所述螺栓为钢制螺栓，其规格为Φ10-Φ100mm。

4.一种螺栓柱面导波检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)将所述螺栓放置于所述螺栓架上；

(2)仪器校准和复核：使用标准试块和对比试块检测校准，主要测定的参数有零偏、各个晶片的补偿，声速，扫描比例及检测灵敏度等；

(3)将所述耦合剂涂抹于所述螺栓上端面，并将所述耦合剂涂抹均匀；

(4)将所述相控阵导波探头接触所述螺栓端面，并操作所述相控阵导波探头与所述螺栓端面位置相对应；

(5)所述相控阵导波探头向所述螺栓发射的导波脉冲，当所述螺栓有裂纹时，所述相控阵导波探头接收所述螺栓的裂纹反射的导波脉冲；

(6)缺陷评判：所述螺栓检测仪进行相控阵成像处理，所述螺栓检测仪利用B扫成像对缺陷进行测量，并实现缺陷在三维立体中的分布，通过C扫和A扫视图对缺陷进行定位和定量；

(7)数据存储：可将发现缺陷的测量数据进行录制，回放，然后输出报告，存储、打印或导出。

5.根据权利要求4所述的一种螺栓柱面导波检测方法，其特征在于，所述耦合剂为水、机油或专用耦合剂。

6.根据权利要求4所述的一种螺栓柱面导波检测方法，其特征在于，所述螺栓为钢制螺栓，其规格为Φ10-Φ100mm。