[发明专利]浸透探伤试验用速干式显影剂以及使用该显影剂的浸透探伤试验方法

说明书

本发明的课题是提供一种如下所述的速干式显影剂：由于在涂布后显影剂层立即变白而存在隐蔽性，因此，在使用染色浸透液的浸透探伤试验中，在不等待显影剂干燥的情况下出现清晰的缺陷指示图案从而能够检测开口缺陷部且能够通过目视辨别已涂布的部位，因而作业效率优异，而且，在干燥后能够检测微细的开口缺陷部，并且干燥时间短。本发明的解决手段是提供一种浸透探伤试验用速干式显影剂，其中，其是将氧化钛6～20重量％以及碳酸钙和/或碳酸镁6～20重量％分散在挥发性有机溶剂中而成。

技术领域

本发明涉及一种在检测存在于各种金属部件表面的开口缺陷部的浸透探伤试验中使用的速干式显影剂。详细地，涉及一种如下所述的浸透探伤试验用速干式显影剂：由于该显影剂在涂布后显影剂层立即变白而存在隐蔽性，因此，在不等待显影剂干燥的情况下出现清晰的缺陷指示图案从而能够检测开口缺陷部并且能够通过目视辨别涂布部位，因而作业效率优异，而且，在干燥后能够检测微细的开口缺陷部，并且干燥时间短。

背景技术

众所周知，浸透探伤试验是一种非破坏检查方法，根据JIS Z 2343-1～6标准化。其基本方式如下：使溶解有染料的浸透性强的染色浸透液、荧光浸透液(以下，称为“浸透液”)附着在被检查物表面进而浸透到开口缺陷部后，除去未渗透到该缺陷部内而残留在被检查物表面的剩余浸透液，然后，在该被检查物表面形成碳酸镁粉末、碳酸钙粉末等无机质白色粉末(本领域技术人员称为“显影剂”)的薄层(以下，称为“显影剂层”)，通过该显影剂层使渗透到开口缺陷部内的浸透液吸出至显影剂层表面，从而呈现缺陷指示图案，在染色浸透液的情况下，在自然光或白色光下观察用数码相机等拍摄的图像、或者在荧光浸透液的情况下，在黑光等照射下观察用数码相机等拍摄的图像，并通过该缺陷指示图案检测开口缺陷部的存在和位置。

浸透探伤试验中的显影是指由于在显影剂层中包含的粒子(以下，称为“显影材料粒子”)之间存在空间而产生的毛细管现象，使残留在开口缺陷部的浸透液吸出至显影剂层表面，通过吸出时的图案检测缺陷部。

因此，在使用染色浸透液的浸透探伤试验中，为了得到清晰的缺陷指示图案，要求显影剂层的白度即隐蔽性。

但是，通常，由于显影剂在涂布后没有立即出现白色，而随着干燥出现白色，因此，必须待涂布的显影剂干燥之后再进行探伤作业。

另外，在直至干燥之前难以知道涂布的部位，难以在涂布后立即辨别被检查物表面是否完全涂布。

因此，开发了在分散介质中使用挥发性非常高的环己烷的干燥时间短的超速干式显影剂。

然而，对于超速干式而言，由于干燥快，因此存在必须快速进行涂布作业且难以形成均匀的显影剂层的问题。

显影剂层不均匀、显影材料粒子之间空隙不均衡、或者出现完全不存在空隙的部分时，由于浸透液不均衡地吸出、或者完全不吸出，因此，难以准确地检测开口缺陷部的位置、大小。

另外，即使是速干式，在未等待干燥之前也不能进行探伤作业，而且，由于在涂布后未立即变白，因此也存在难以辨别已涂布的部位的问题。

因此，期待开发一种显影剂，在涂布显影剂后显影剂层立即变白，在未等待干燥的情况下出现清晰的缺陷指示图案从而能够检测开口缺陷部，并且在涂布后能够立即通过目视准确地辨别已涂布的部位，而且，在干燥后形成均匀的显影剂层，从而能够检测微细的开口缺陷部。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2000-298104。

发明内容

发明所要解决的课题

在专利文献1中公开了主要成分为醇且使硅酸微粉末、碳酸镁分散在包含含氮非离子性界面活性剂的分散介质中的显影剂。